[发明专利]LED芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201310230275.X 申请日: 2013-06-11
公开(公告)号: CN104241455A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 沈佳辉;洪梓健 申请(专利权)人: 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/20
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 徐丽昕
地址: 518109 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: led 芯片 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种LED芯片制造方法,该制造方法包括步骤:

提供一LED垒层结构,在LED垒层结构上涂布压印胶;

提供一纳米压印模板,该纳米压印模板具有图案化结构,该图案化结构包含具有斜边与底边的梯形凹槽,且斜边与底边的夹角小于45度,将纳米压印模板压印于涂布在LED垒层结构上的压印胶上;

固化压印胶,去除纳米压印模板;

蚀刻带有固化后的压印胶的LED垒层结构,以去除压印胶以及部分LED垒层结构;

在蚀刻后的LED垒层结构上设置电极以形成LED芯片。

2.如权利要求1所述的LED芯片制造方法,其特征在于:所述LED垒层结构包括基底,第一半导体层、有源层和第二半导体层,基底的一面作为LED垒层结构的底面,第一半导体层、有源层和第二半导体层在远离底面的另一面上依次生长。

3.如权利要求1所述的LED芯片制造方法,其特征在于:所述压印胶为紫外固化性压印胶或热固化性压印胶。

4.如权利要求3所述的LED芯片制造方法,其特征在于:所述梯形凹槽的斜边包含三维结构。

5.如权利要求1所述的LED芯片制造方法,其特征在于:采用电感耦合等离子蚀刻法或反应离子束蚀刻法进行蚀刻。

6.一种LED芯片,包含基底,基底的一面作为底面,在远离底面的另一面上依次生长有第一半导体层、有源层和第二半导体层,电极与第一半导体层和第二半导体层电连接,其特征在于:LED芯片的倾斜面与底面夹角小于45度。

7.如权利要求6所述的LED芯片,其特征在于:在基底上先生长一缓冲层,在缓冲层上再生长第一半导体层。

8.如权利要求6所述的LED芯片,其特征在于:LED芯片的倾斜面具有三维结构。

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