[发明专利]一种圆片级封装的引线焊盘引出方法有效

专利信息
申请号: 201310235836.5 申请日: 2013-06-16
公开(公告)号: CN103311140A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 耿菲 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 代理人: 任益
地址: 214135 江苏省无锡市菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 圆片级 封装 引线 引出 方法
【权利要求书】:

1.一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于:其包括如下步骤:

(1)、在盖板上对应焊盘位置刻蚀浅槽;

(2)、将盖板覆盖键合在带有焊盘的晶圆上,所述盖板上的浅槽面与晶圆连接并且浅槽面与所述晶圆形成空间;

(3)、对成形一体的盖板和晶圆进行交错切割,从而把被覆盖的焊盘暴露,引线连接焊盘,焊盘通过引线引出。

2.根据权利要求1所述一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于如下步骤:

1)在键合后的晶圆背面粘贴胶膜,从盖板正面进行切割划片,精确控制切割深度至盖板浅槽面完全切开;

2)去掉晶圆背面的胶膜,在盖板正面粘贴胶膜;

3)从晶圆背面进行切割,切割深度贯穿晶圆和盖板。

3.根据权利要求1所述一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于:采用湿法腐蚀的方式刻蚀加工浅槽。

4.根据权利要求1所述一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于:采用干法刻蚀技术刻蚀加工浅槽。

5.根据权利要求1所述一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于:采用利用机械加工的方法,利用划片机或雕刻机,在上盖板上加工深度可控的浅槽。

6.根据权利要求3所述一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于:所述湿法腐蚀的方式刻蚀加工浅槽,其工艺步骤包括:

(1a)、在玻璃基板上利用蒸发或溅射的方法制备金属薄膜;

(2a)、光刻、腐蚀金属薄膜,从而形成下一步腐蚀玻璃的金属掩膜图形;

(3a)、以图形化的金属薄膜为掩膜,采用玻璃腐蚀溶液对玻璃盖板进行各项同性湿法腐蚀,从而形成浅槽。

7.根据权利要求4所述一种圆片级封装的引线焊盘引出方法,其特征在于:所述干法刻蚀技术刻蚀加工浅槽,其工艺步骤包括:光刻胶为掩膜,利用干法刻蚀设备,制备浅槽。

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