[发明专利]计算待测元件的轮廓数据的方法

说明书

技术领域

本发明有关于一种待测元件的计算方法，并且更有关于一种用来计算待测元件的实体的轮廓数据的方法。

背景技术

一般来说，生产线上的组装人员是依照既定的程序，将一个产品所需的多个待组装元件进行组装，藉以组合成一个完整的产品，例如一个产品可能由待组装元件A、B、C等三个元件来组成。而上述的每一个待组装元件通常是经由机器来大量制造，例如由机器A来大量制造相同的元件A、由机器B来大量制造相同的元件B、由机器C来大量制造相同的元件C。因此在组装时，组装人员只需要在仓储的多个相同的待组装元件中，随意选取一个来进行组装即可。

然而，于大量生产上述的待组装元件时，可能会因为使用了不同批的材料、机器本身所产生的误差、或是由不同的操作人员来控制生产线、甚至是仓储环境的温度不同等因素，使得同一条产线或同一台机器所产出的同一个待组装元件(例如元件A)，其在轮廓上可能会产生些许的误差。如此一来，使用不同的待组装元件来进行组装(例如元件A-1、元件A-2等)，将可能使得产品具有不同的组装问题(例如二待组装元件之间的间隙过大，或者组装表面不平整等)，导致产品的组装品质下降。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种计算待测元件的轮廓数据的方法，可以通过测量装置对待测元件的实体进行测量与计算，以得出待测元件的轮廓数据并加以储存，藉此利于待测元件与其他元件的组装。

为了达到上述目的，本发明提供一种计算待测元件的轮廓数据的方法，通过一测量装置所运算，该待测元件由一第一元件及一第二元件所组成，该方法包括：

a)该测量装置分别测量取得该第一元件的质心以及该第二元件的质心；

b)该测量装置规划一质心线，其连接该第一元件的质心与该第二元件的质心；

c)该测量装置规划一第一基准线，其中该第一基准线垂直于该质心线，并且该第一基准线通过该第一元件的质心；

d)该测量装置规划至少一垂直线，其中该垂直线垂直于该第一基准线，并且该垂直线不与垂直于该第一基准线的任何一条线相重叠，其中该垂直线与该第一元件的轮廓周缘产生至少二交点，该测量装置经计算得出该至少二交点的坐标数据；

e)记录该至少二交点的坐标数据；及

f)该测量装置依据所记录的所有点位的坐标数据，定义该待测元件的轮廓。

如上所述，其中该第一元件与该第二元件凸出于该待测元件的表面，为该待测元件上的两个分开的凸出物，该第一元件及该第二元件的底部相连，并且具有固定的相对位置。

如上所述，其中该测量装置具有一影像撷取单元及一微处理单元，并且该步骤a更包括下列步骤：

a1)通过该影像撷取单元分别为该第一元件与该第二元件的实体撷取对应的元件影像；及

a2)通过该微处理单元对该二元件影像进行计算，藉以由该二元件影像中找出该第一元件的该质心以及该第二元件的该质心。

如上所述，其中该影像撷取单元为一电荷耦合元件，该微处理单元通过Labview软件对该二元件影像进行演算法的计算。

如上所述，其中该步骤b中，该质心线与该第一元件的轮廓周缘相交至少一交点，并且该质心线与该第二元件的轮廓周缘相交至少二交点，该测量装置经计算得出该至少三交点的坐标数据，并且同时记录该三交点的坐标数据。

如上所述，其中该步骤c中，该第一基准线与该第一元件的轮廓左侧产生一左交点，并且该第一基准线与该第一元件的轮廓右侧产生一右交点，该测量装置经计算得出该左交点及该右交点的坐标数据，并且该测量装置同时记录该左交点及该右交点的坐标数据。

如上所述，其中该步骤c之后包括下列步骤：

c1)该测量装置寻找该第一元件的轮廓右侧的一缺陷弧线的中点；

c2)将该第一基准线进行向上平移，令该第一基准线通过该缺陷弧线的中点，并保持与该质心线垂直；

c3)该平移后的第一基准线与该第一元件的轮廓左侧产生一左交点，并且与该第一元件的轮廓右侧产生一右交点，该测量装置经计算得出该左交点及该右交点的坐标数据，并且该测量装置同时记录该左交点及该右交点的坐标数据，其中该右交点为该缺陷弧线的中点。

如上所述，其中该步骤d更包括下列步骤：

d1)计算该第一元件的质心与该左交点之间的一第一中心点；

d2)规划一第一垂直线，其中该第一垂直线垂直于该第一基准线并且通过该第一中心点，并且该第一垂直线与该第一元件的轮廓周缘相交至少二交点；