[发明专利]独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法有效

专利信息
申请号: 201310247397.X 申请日: 2013-06-20
公开(公告)号: CN103279408A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 吴昊;袁清波;苗艳超;刘新春;邵宗有 申请(专利权)人: 曙光信息产业(北京)有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;孙征
地址: 100193 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 独立 冗余 磁盘阵列 raid 性能 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法,其特征在于,包括:

从结果文件中读取断点位置并根据所述断点位置从配置文件中读取第一参数和多个第二参数;

根据所述第一参数创建RAID;以及

根据所述多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试。

2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述结果文件内容包括测试结果和测试位置。

3.根据权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述第一参数为创建所述RAID时写入数据大小的Chunk参数。

4.根据权利要求3所述的测试方法,其特征在于,所述多个第二参数包括bs参数和count参数,其中,所述bs参数为dd命令中每次写入数据块的大小并且所述count参数为所述dd命令中写入数据块的总块数。

5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,从所述结果文件中读取所述断点位置并根据所述断点位置从所述配置文件中读取所述第一参数和所述多个第二参数的步骤进一步包括:

读取所述结果文件中的所述测试位置并根据所述测试位置确定所述断点位置;以及

根据所述断点位置从所述配置文件中读取所述Chunk参数、所述bs参数和所述count参数。

6.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,根据所述多个第二参数对所述被创建的RAID进行所述读写速率测试的步骤进一步包括:在创建所述RAID以后,根据所述bs参数和所述count参数对所述RAID读写数据并进行所述读写速率测试。

7.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,进一步包括:在根据所述多个第二参数对所述被创建的RAID进行所述读写速率测试的同时,将测试运行状况记载在日志文件中;以及

在根据所述多个第二参数对所述被创建的RAID进行所述读写速率测试完成以后,

将所述测试结果和所述测试位置存储在所述结果文件中,并且

根据所述配置文件中接下来的第一参数和多个第二参数继续进行测试直到所述配置文件中的所有第一参数和多个第二参数都被读完为止。

8.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述配置文件是文本文件或XML文件。

9.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在具有坏盘情况下,对所述RAID进行所述读写速率测试之前,模拟所述坏盘。

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