[发明专利]独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法

说明书

技术领域

本发明一般地涉及计算机技术领域，更具体地来说，涉及一种独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法。

背景技术

存储系统是计算机系统的重要组成部分，尤其是在当前海量数据的情况下，对存储系统提出了更高的要求。RAID（Redundant Arrays of Inexpensive Disks，独立冗余磁盘阵列）是把相同的数据存储在多个硬盘的不同的地方（因此，冗余地）的方法。通过把数据放在多个硬盘上，输入输出操作能以平衡的方式交叠，改良性能。因为多个硬盘增加了平均故障间隔时间（MTBF），储存冗余数据也增加了容错，所以RAID是存储系统中必不可少的技术之一，是保证数据能够高速安全存储的关键。而对RAID性能的测试是在系统开发过程中不可缺少的步骤之一

在Linux系统中对RAID的读写性能测试是测试中的重要组成部分，在现有技术中，一种测试方法是预先组织大量不同数据，通过软件将这些数据写到磁盘中，并测试其写入速率，用同样的方法测试出其读取速率，然后更改参数重复进行测试，得到在不同参数下的测试结果。该测试方法能够对RAID进行读写测试，但是需要事先组织大量的数据，降低了测试效率。

现有技术中的另一种测试方法是直接利用Linux系统中的dd命令进行测试，可以对RAID进行直接的读写测试并给出RAID的读写速率，最后计算多次测试的均值得到测试结果。这种测试方法可以不用预先组织大量数据，但是每次测试都需要测试人员设置不同参数，在大型的存储系统测试中，每次测试持续的时间往往需要几天甚至几周，这样会增加测试人员的劳动强度；其次，在诸如系统断点的情况下，测试会意外停止，在重新启动测试程序时，需要重新开始进行测试，这样会降低测试效率，造成测试周期变长，从而影响工程进度。此外，对某些需要频繁重新启动系统的测试项目，需要测试人员必须每次手动启动测试工具。从而现有的测试工具不能实现完全的自动化测试。

发明内容

针对现有技术中测试人员强度大、测试效率低等的缺陷，本发明提出了能够解决上述缺陷的独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法。

根据本发明的实施例，提供了一种独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法，包括：从结果文件中读取断点位置并根据断点位置从配置文件中读取第一参数和多个第二参数；根据第一参数创建RAID；以及根据多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试。

优选地，结果文件内容包括测试结果和测试位置。

优选地，第一参数为创建RAID时写入数据大小的Chunk参数。

优选地，多个第二参数包括bs参数和count参数，其中，bs参数为dd命令中每次写入数据块的大小并且count参数为dd命令中写入数据块的总块数。

优选地，从结果文件中读取断点位置并根据断点位置从配置文件中读取第一参数和多个第二参数的步骤进一步包括：读取结果文件中的测试位置并根据测试位置确定断点位置；以及根据断点位置从配置文件中读取Chunk参数、bs参数和count参数。

优选地，根据多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试的步骤进一步包括：在创建RAID以后，根据bs参数和count参数对RAID读写数据并进行读写速率测试。

优选地，测试方法进一步包括：在根据多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试的同时，将测试运行状况记载在日志文件中；以及在根据多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试完成以后，将测试结果和测试位置存储在结果文件中，并且根据配置文件中接下来的第一参数和多个第二参数继续进行测试直到配置文件中的所有第一参数和多个第二参数都被读完为止。

优选地，配置文件是文本文件或XML文件。

优选地，在具有坏盘情况下，对RAID进行读写速率测试之前，模拟坏盘。

利用本发明的技术方案能够克服现有技术的缺陷，通过将测试的各种参数预先写入配置文件，在测试过程中不需要测试人员亲自设置这些测试，由此减轻了测试人员的劳动强度，能够实现对RAID读写速率进行自动测试；将每次测试完的测试位置和测试结果存储在结果文件中，从而在测试意外中断的情况下，可以找到断点位置，从而继续进行测试，因此大幅提高了测试效率。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明