[发明专利]薄膜晶体管基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310253860.1 申请日: 2013-06-25
公开(公告)号: CN104253091A 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 安生健二 申请(专利权)人: 业鑫科技顾问股份有限公司;新光电科技有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/027
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 徐丽昕
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管基板的制造方法,其包括:

提供一基板;

在该基板上依次形成栅极、栅极绝缘层、半导体层、蚀刻阻挡层、透明导电层及金属层;

提供一光阻层,该光阻层覆盖在该金属层上,利用一光罩对该光阻层进行曝光显影,以形成图案化光阻层,该图案化光阻层邻近半导体层的部分较厚,远离半导体层的部分较薄,再对金属层进行蚀刻,直到暴露出部分蚀刻阻挡层;

去除剩余的较薄部分的光阻层,以暴露出部分金属层;

对暴露在外的金属层进行蚀刻,以暴露出部分该透明导电层;以及

去除该光阻层。

2.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,该半导体层包括非晶氧化半导体材料。

3.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,该透明导电层为铟锡氧化物薄膜。

4.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,该光罩为半色调网点光罩。

5.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,透明导电层位于金属层与半导体层之间。

6.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,在步骤“去除该光阻层”之后,进一步包括如下步骤:形成一个保护层,以覆盖该金属层、透明导电层以及暴露在外的蚀刻阻挡层。

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