[发明专利]薄膜晶体管基板的制造方法有效
申请号: | 201310253860.1 | 申请日: | 2013-06-25 |
公开(公告)号: | CN104253091A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 安生健二 | 申请(专利权)人: | 业鑫科技顾问股份有限公司;新光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/027 |
代理公司: | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人: | 徐丽昕 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 制造 方法 | ||
1.一种薄膜晶体管基板的制造方法,其包括:
提供一基板;
在该基板上依次形成栅极、栅极绝缘层、半导体层、蚀刻阻挡层、透明导电层及金属层;
提供一光阻层,该光阻层覆盖在该金属层上,利用一光罩对该光阻层进行曝光显影,以形成图案化光阻层,该图案化光阻层邻近半导体层的部分较厚,远离半导体层的部分较薄,再对金属层进行蚀刻,直到暴露出部分蚀刻阻挡层;
去除剩余的较薄部分的光阻层,以暴露出部分金属层;
对暴露在外的金属层进行蚀刻,以暴露出部分该透明导电层;以及
去除该光阻层。
2.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,该半导体层包括非晶氧化半导体材料。
3.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,该透明导电层为铟锡氧化物薄膜。
4.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,该光罩为半色调网点光罩。
5.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,透明导电层位于金属层与半导体层之间。
6.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板的制造方法,其特征在于,在步骤“去除该光阻层”之后,进一步包括如下步骤:形成一个保护层,以覆盖该金属层、透明导电层以及暴露在外的蚀刻阻挡层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造