[发明专利]粒子检测装置的光源的制造装置及粒子检测装置的光源的制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及环境评价技术，尤其涉及粒子检测装置的光源的制造装置及粒子检测装置的光源的制造方法。

背景技术

在生物净化室等的净化室中，用粒子检测装置来检测并记录飞散的粒子（例如参照非专利文献1。）。根据粒子的检测结果，可以掌握净化室的空调设备的劣化情况。另外，作为参考资料，也有对在净化室中制造的产品添附净化室内的粒子的检测记录。光学式的粒子检测装置，例如吸引净化室中的气体，并用光照射所吸引的气体。当气体中含有粒子时，因粒子使光散射，就有可以检测出气体中所含的粒子的数目及大小等。

现有技术文献

非专利文献

非专利文献1长谷川伦男他，「气体中微生物实时检测技术及其应用」，株式会社山武，azbil Technical Review2009年12月号，p.2-7，2009年。

发明内容

发明要解决的课题

本发明的目的之一在于提供可制造误检测少的光学式粒子检测装置的粒子检测装置的光源的制造装置及粒子检测装置的光源的制造方法。

用于解决课题的手段

根据本发明的形态，提供具备（a）保持光源元件的元件保持部，（b）保持装有光源元件的基座的基座保持部，（c）识别光源元件表面的布线图形方向的识别装置，及（d）使光源元件相对于基座相对地旋转，以使光源元件的布线图形相对于基座朝着规定的方向的旋转机构的粒子检测装置的光源的制造装置。

又，根据本发明，提供包含如下步骤：（a）保持光源元件，（b）保持装有光源元件的基座，（c）识别光源元件表面的布线图形方向，及（d）使光源元件相对于基座相对地旋转，以使光源元件的布线图形相对于基座朝着规定的方向的粒子检测装置的光源的制造方法。

发明的效果

根据本发明，可以提供可制造误检测少的光学式粒子检测装置的粒子检测装置的光源的制造装置及粒子检测装置的光源的制造方法。

附图说明

图1是本发明的实施方式的光学式粒子检测装置的模式图。

图2是本发明的实施方式的光源元件的截面图。

图3是本发明的实施方式的光源元件的像的模式图。

图4是本发明的实施方式的光学式粒子检测装置的照明光学系统的模式图。

图5是示出本发明的实施方式的光学式粒子检测装置的光源的像与粒子行进方向的关系的第1模式图。

图6是示出本发明的实施方式的光学式粒子检测装置的光源的像与粒子行进方向的关系的第2模式图。

图7是示出本发明的实施方式的光学式粒子检测装置的光源的像与粒子行进方向的关系的第3模式图。

图8是本发明的实施方式的粒子检测装置的光源的制造装置的模式图。

图9是本发明的实施方式的粒子检测装置的光源的制造装置的中央运算处理装置的模式图。

图10是本发明的其他实施方式的光源元件的模式图。

图11是本发明的其他实施方式的基座的第1模式图。

图12是本发明的其他实施方式的基座的第2模式图。

图13是本发明的其他实施方式的基座的第3模式图。

图14是本发明的其他实施方式的基座的第4模式图。

图15是本发明的其他实施方式的基座的第5模式图。

具体实施方式

下面说明本发明的实施方式。附图中对相同或类似部分以相同或类似的符号来表示。但附图是一种模式性的表示。因此，具体的尺寸等应对照下面的说明来判断。又，附图相互之间当然也包含互相的尺寸关系或比率不同的部分。

首先，说明由实施方式的制造装置所制造的光学式粒子检测装置。光学式粒子检测装置如图1所示，包括：发射光的光源元件1，安装有光源元件1的基座2，使光源元件1出射的光为平行光的照射侧平行光透镜11，使平行光会聚的照射侧聚光透镜12，及使含有粒子的气流横切由照射侧聚光透镜12所会聚的光的喷射机构3。这里，所谓粒子，包含微生物，无害或有害的化学物质，垃圾、尘土、及尘埃等的灰尘。

安装于基座2的光源元件1包括例如发光二极管（LED）。光源元件1发出的光，可以是可见光，也可以是紫外光。在光为可见光时，光的波长为例如400至410nm的范围内，例如为405nm。在光为紫外光时，光的波长为例如310至380nm的范围内，例如为355nm。保持光源元件1的基座2被固定于光学式粒子检测装置的壳体31上。