[发明专利]一种同轴垂直互连导电体的制作方法有效

专利信息
申请号: 201310280690.6 申请日: 2013-07-05
公开(公告)号: CN103311141A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 丁英涛;高巍;陈倩文;王士伟 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/522
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 同轴 垂直 互连 导电 制作方法
【权利要求书】:

1.一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:具体步骤如下:

P01:在衬底上采用等离子体刻蚀或化学湿法刻蚀方法,形成同轴、垂直衬底上表面且不穿透衬底的圆柱形深孔和圆环柱形深槽结构;

所述的圆柱位于圆环柱内,两者上表面具有相同的圆心位置,圆柱直径小于环形的内直径;

P02:垂直侧壁和衬底上表面依次均匀淀积绝缘层、粘附层和导电层材料;

所述垂直侧壁包括圆柱形深孔的侧壁,以及环形深槽的内、外侧壁;

所述绝缘层、粘附层和导电层填充满深孔和深槽结构,分别形成同轴的内、外垂直导电体;

P03:依次去除衬底上表面的导电层和粘附层;

P04:在衬底上表面制造与垂直导电体相连接的金属互连;

P05:从衬底下表面减薄衬底,直到圆形深孔或环形深槽内填充的金属导电层外露;

P06:在衬底下表面制造金属互连与垂直导电体相连;

至此,本发明的同轴垂直互连导电体制作完毕。

2.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述绝缘层的实现方法为低温二氧化硅淀积、或者化学气相淀积、或者热氧化、或者喷涂、或者旋涂方法。

3.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述金属互连的实现方法为反应离子刻蚀、或者化学湿法刻蚀、或者金属剥离、或者大马士革方法。

4.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述粘附层的实现方法为溅射、或者物理气相淀积、或者原子层沉积。

5.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述粘附层材料为钛、钽、钌、铱、钨、铬、镍、钼、氮化钛、氮化钽、钛钨、硅碳氮中的一种或多种。

6.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述导电层的实现方法为电镀、或者化学镀、或者溅射、或者化学气相淀积、或者物理气相淀积。

7.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述减薄的实现方法为机械研磨、反应离子刻蚀、化学湿法刻蚀、化学机械抛光中的一种或多种。

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