[发明专利]一种同轴垂直互连导电体的制作方法有效
申请号: | 201310280690.6 | 申请日: | 2013-07-05 |
公开(公告)号: | CN103311141A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 丁英涛;高巍;陈倩文;王士伟 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/522 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 同轴 垂直 互连 导电 制作方法 | ||
1.一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:具体步骤如下:
P01:在衬底上采用等离子体刻蚀或化学湿法刻蚀方法,形成同轴、垂直衬底上表面且不穿透衬底的圆柱形深孔和圆环柱形深槽结构;
所述的圆柱位于圆环柱内,两者上表面具有相同的圆心位置,圆柱直径小于环形的内直径;
P02:垂直侧壁和衬底上表面依次均匀淀积绝缘层、粘附层和导电层材料;
所述垂直侧壁包括圆柱形深孔的侧壁,以及环形深槽的内、外侧壁;
所述绝缘层、粘附层和导电层填充满深孔和深槽结构,分别形成同轴的内、外垂直导电体;
P03:依次去除衬底上表面的导电层和粘附层;
P04:在衬底上表面制造与垂直导电体相连接的金属互连;
P05:从衬底下表面减薄衬底,直到圆形深孔或环形深槽内填充的金属导电层外露;
P06:在衬底下表面制造金属互连与垂直导电体相连;
至此,本发明的同轴垂直互连导电体制作完毕。
2.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述绝缘层的实现方法为低温二氧化硅淀积、或者化学气相淀积、或者热氧化、或者喷涂、或者旋涂方法。
3.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述金属互连的实现方法为反应离子刻蚀、或者化学湿法刻蚀、或者金属剥离、或者大马士革方法。
4.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述粘附层的实现方法为溅射、或者物理气相淀积、或者原子层沉积。
5.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述粘附层材料为钛、钽、钌、铱、钨、铬、镍、钼、氮化钛、氮化钽、钛钨、硅碳氮中的一种或多种。
6.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述导电层的实现方法为电镀、或者化学镀、或者溅射、或者化学气相淀积、或者物理气相淀积。
7.根据权利要求1所述的一种同轴垂直互连导电体的制作方法,其特征在于:所述减薄的实现方法为机械研磨、反应离子刻蚀、化学湿法刻蚀、化学机械抛光中的一种或多种。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造