[发明专利]一种晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺无效
申请号: | 201310282761.6 | 申请日: | 2013-07-08 |
公开(公告)号: | CN103400890A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 涂宏波;李茂林;王学林;陈世明;刘自龙;李仙德;陈康平;金浩 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;B08B3/08 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 吴关炳 |
地址: | 314416 浙江省嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳电池 pecvd 色差 片去膜重镀 返工 工艺 | ||
1.一种晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺,其特征在于,包括去膜清洗、管式PECVD镀膜、丝网印刷和烧结步骤;所述去膜清洗的具体分步骤为HF去膜、水洗1、HCl酸洗、水洗2、HF酸洗、水洗3、水洗4、水洗5和干燥;除水洗5分步骤外,其余各酸洗和水洗分步骤均需鼓泡。
2.按权利要求1所述的晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺,其特征在于,所述的HF去膜分步骤中采用质量浓度为15%~40%的HF溶液,反应时间为10~30分钟;所述的HCl酸洗分步骤中采用质量浓度为3%~10%的HCl溶液,浸泡时间为60~200s;所述的HF酸洗分步骤中采用质量浓度为3%~10%的HF溶液,浸泡时间为60-200s。
3.按权利要求1所述的晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺,其特征在于,所述的水洗1,水洗2,水洗3,水洗4和水洗5分步骤的水洗时间均在60~500s,所述的水洗5分步骤的温度控制在60℃以上。
4.按权利要求1所述的晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺,其特征在于,所述的干燥分步骤采用甩干的方法,甩干时间在300~600s。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的