[发明专利]一种光学次模块检测机及检测方法

权利要求书

1.一种光学次模块检测机，包括光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构、自动送料机构、上料机构组件、下料机构组件、工作台、操纵面板、闭环自动检测控制系统、人机对话界面、防护罩及故障报警系统；

其特征在于：

所述的光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构包括光纤头端面洁净度检测机构、光纤头污点擦拭清洗机构、多自由度光纤头夹持机械手、导正夹紧机构、电信号传输探针机构；

所述的上料机构组件和下料机构组件均包括物料盘；

所述的下料机构组件还包括检测物分离机构和检测物识别机构（二维码技术、一维条形码技术、视频图像识别技术、磁条技术、IC卡技术）；

根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述的自动送料机构为多自由度送料机械手。

2.根据权利要求2所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述上料机构组件和下料机构组件的物料盘、检测物分离机构及导正夹紧机构和电信号传输探针机构均位于多自由度送料机械手的工作半径之内。

3.根据权利要求2所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述多自由度送料机械手的夹持部位设置有工位检测反馈机构。

4.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述的自动送料机构为高精度工位转移机构；

根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述的高精度工位转移机构包括工位转移平台、驱动马达（伺服马达、步进马达、直线马达、DD马达）、行走位置控制机构（伺服马达控制器、步进马达控制器、直线马达控制器、DD马达驱动器）、光学次模块定位机构。

5.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述的上料机构组件和下料机构组件还包括多自由度机械手和固定支架。

6.根据权利要求7所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述物料盘位于对应的多自由度机械手的工作半径之内；所述下料机构物料盘分为合格品物料盘和次品物料盘；所述物料盘上的物料孔位的相对坐标与系统的预设相对坐标值一致。

7.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述检测物料分离机构位于下料机构组件物料盘一侧；所述检测物分离机构一侧有落料口，下方设置接料盒。

8.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述多自由度光纤头夹持机械手至少为一个，位于光纤头污点擦拭清洗机构和导正夹紧机构之间；所述光纤头端面洁净度检测机构与光纤头污点擦拭清洗机构位于自由度光纤头夹持机械手同侧。

9.根据权利要求10所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述光纤头污点擦拭清洗机构和导正夹紧机构位于多自由度光纤头夹持机构的工作半径之内。

10.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述导正夹紧机构上设置有导正夹指。

11.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述的电信号传输探针机构设置在多自由度光纤头夹持机械手一侧，上端设置有电信号传输探针，所述电信号传输探针位于所述导正夹指下方。

12.根据权利要求1所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述检测物识别机构设置在上料后和下料前之间的任意工位的一侧。

13.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述工位检测反馈机构设置在上料机构组件两侧靠近工位转移平台处。

14.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述工位检测反馈机构设置在工位转移平台的工位卡槽内。

15.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述工位转移平台上有均布有多工位；所述的光学次模块定位机构固定在所述工位上；所述光学次模块定位机构上设置有光学次模块定位卡槽。

16.根据权利要求5所述的一种光学次模块检测机，其特征在于：所述的任意一个移动到电信号传输探针上方的工位卡槽，其中心与电信号传输探针中心以及上方导正夹指的夹持中心和光纤头中心同轴。