[发明专利]坏像素处理方法与图像处理装置

权利要求书

1.一种坏像素处理方法，用于一图像处理装置，其特征在于，包括：

取得多个像素，其中该些像素中的多个第一像素具有一第一曝光时间，该些像素中的多个第二像素具有一第二曝光时间，该第一曝光时间不同于该第二曝光时间，并且该些像素中的一当前像素属于该第一曝光时间；

调整各该些第二像素的一颜色值以对应至该第一曝光时间；

判断该些像素是否过曝光以产生一判断结果；

根据该些第一像素、调整后的该些第二像素与该判断结果来判断该当前像素是否为一坏像素；以及

若该当前像素为该坏像素，修正该当前像素。

2.根据权利要求1所述的坏像素处理方法，其特征在于，该第一曝光时间为一短曝光与一长曝光的其中之一，该第二曝光时间为该短曝光与该长曝光的其中之另一，并且上述调整各该些第二像素的该颜色值以对应至该第一曝光时间的步骤包括：

若该第二曝光时间为该短曝光，将各该些第二像素的该颜色值乘上一增益，其中该增益是根据该第一曝光时间与该第二曝光时间所计算出；以及

若该第二曝光时间为该长曝光，将各该些第二像素的该颜色值除以该增益。

3.根据权利要求2所述的坏像素处理方法，其特征在于，判断该些像素是否过曝光以产生该判断结果的步骤包括：

取得该些像素中的一测试像素；

若该测试像素具有该长曝光，判断该测试像素的一颜色值是否大于一第一临界值，并且若该测试像素的该颜色值大于该第一临界值，判断该测试像素为过曝光；

若该测试像素具有该短曝光，判断该测试像素的该颜色值乘上该增益之后的一乘积是否大于一第二临界值，并且若该乘积大于该第二临界值，判断该测试像素为过曝光；以及

在该判断结果中标记该测试像素是否为过曝光。

4.根据权利要求1所述的坏像素处理方法，其特征在于，该些像素中的多个第三像素与该当前像素具有相同的通道，并且上述判断该当前像素是否为该坏像素的步骤包括：

根据该判断结果判断每一该些第三像素是否为过曝光；

对于每一该些第三像素，若对应的该第三像素为过曝光，则更新一计数值；

对于每一该些第三像素，若对应的该第三像素不为过曝光，则根据对应的该第三像素的一颜色值与该当前像素的一颜色值之间的一差值来更新该计数值；

判断该计数值是否大于一第三临界值；以及

若该计数值不大于该第三临界值，判断该当前像素不为该坏像素。

5.根据权利要求4所述的坏像素处理方法，其特征在于，根据对应的该第三像素的该颜色值与该当前像素的该颜色值之间的该差距差值来更新该计数值的步骤包括：

根据该当前像素的该颜色值来决定一第四临界值与一第五临界值；

若该差值大于该第四临界值，更新该计数值；

若该差值小于该第五临界值，更新该计数值；以及

若该差值介于该第四临界值与该第五临界值之间，则维持该计数值不变。

6.根据权利要求4所述的坏像素处理方法，其特征在于，判断该当前像素是否为该坏像素的步骤还包括：

若该计数值大于该第三临界值，判断该些第三像素的其中之一是否为过曝光；以及

若该些第三像素的其中之任一为过曝光，判断该当前像素为该坏像素。

7.根据权利要求6所述的坏像素处理方法，其特征在于，修正该当前像素的步骤包括：

根据具有该第一曝光时间的该些第三像素来修正该当前像素。

8.根据权利要求7所述的坏像素处理方法，其特征在于，根据具有该第一曝光时间的该些第三像素来修正该当前像素的步骤是根据一加权平均算法所执行。

9.一种图像处理装置，其特征在于，包括：

一上行取样电路，用以取得多个像素，其中该些像素中的多个第一像素具有一第一曝光时间，该些像素中的多个第二像素具有一第二曝光时间，该第一曝光时间不同于该第二曝光时间，并且该些像素中的一当前像素属于该第一曝光时间，其中该上行取样电路用以调整各该些第二像素的一颜色值以对应至该第一曝光时间，并且判断该些像素是否过曝光以产生一判断结果；

一检测电路，耦接至该上行取样电路，用以根据该些第一像素、调整后的该些第二像素与该判断结果来判断该当前像素是否为一坏像素；以及

一修复电路，耦接至该检测电路，若该当前像素为该坏像素，该检测电路用以修正该当前像素。