[发明专利]坏像素处理方法与图像处理装置在审

专利信息
申请号: 201310298123.3 申请日: 2013-07-16
公开(公告)号: CN104301638A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 林慧珊;赵善隆;曾家俊 申请(专利权)人: 聚晶半导体股份有限公司
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367;H04N5/235
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 中国台湾新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 像素 处理 方法 图像 装置
【说明书】:

技术领域

发明是有关于一种图像处理技术,且特别是有关于一种针对有不同曝光时间的图像的坏像素处理方法与图像处理装置。

背景技术

所谓“动态范围”,是指画面中的最大亮度值与最小亮度值的范围或比值。对于摄影而言,动态范围又可分为“图像传感器的动态范围”和“场景的动态范围”。其中,图像传感器的动态范围是指感光元件所能接受亮度变化的范围。场景的动态范围是指拍摄场景中的亮度差异范围,也就是画面中最亮区域和最暗区域的差异。

当场景的动态范围大于图像传感器的动态范围时,代表拍摄场景中有极端的亮部与暗部,超出了感光元件所能记录的色阶,因此照片中会出现全黑或全白的区块。为了克服此缺陷,高动态范围(High Dynamic Range,HDR)图像传感器通过图像处理技术,使得处理后图像的动态范围大于一般相机获取的单一图像所提供的动态范围。

高动态范围图像传感器的其中一种操作模式为产生同画面中两条长曝光及两条短曝光连续交替的图像。利用长曝光及短曝光连续交替拍摄所得的单一图像中会产生部分的像素与其他的像素有不同的曝光时间,但现有的坏点修正技术是基于单一图像仅有单一曝光时间的假设。也就是说,使用长曝光及短曝光连续交替拍摄所得的单一图像并无法直接应用现有的坏点修正技术。据此,上述的坏点修正问题将影响高动态范围图像的品质。

发明内容

本发明提供一种坏像素处理方法与图像处理装置,可以在一张图像有不同曝光时间的情况下检测坏像素并修正坏像素。

本发明一实施例提出一种坏像素处理方法,用于图像处理装置。此方法包括:取得多个像素,其中所述像素中的多个第一像素具有第一曝光时间,所述像素中的多个第二像素具有第二曝光时间,第一曝光时间不同于第二曝光时间,且所述像素中的当前像素属于第一曝光时间;调整各第二像素的颜色值以对应至第一曝光时间;判断所述像素是否过曝光以产生判断结果;根据所述第一像素、调整后的所述第二像素与判断结果来判断当前像素是否为坏像素;以及若当前像素为坏像素,修正当前像素。

在一实施例中,上述的第一曝光时间为短曝光与长曝光的其中之一,第二曝光时间为短曝光与长曝光的其中之另一,并且,上述调整各第二像素的颜色值以对应至第一曝光时间的步骤包括:若第二曝光时间为短曝光,将各第二像素的颜色值乘上一个增益,其中增益是根据第一曝光时间与第二曝光时间所计算出;以及若第二曝光时间为长曝光,将各第二像素的颜色值除以增益。

在一实施例中,上述判断所述像素是否过曝光以产生判断结果的步骤包括:取得所述像素中的测试像素;若测试像素具有长曝光,判断测试像素的颜色值是否大于第一临界值,并且若测试像素的颜色值大于第一临界值,判断测试像素为过曝光;若测试像素具有短曝光,判断测试像素的颜色值乘上增益之后的乘积是否大于第二临界值,并且若乘积大于第二临界值,判断测试像素为过曝光;以及在判断结果中标记测试像素是否为过曝光。

在一实施例中,上述像素中的多个第三像素与当前像素具有相同的通道,并且上述判断当前像素是否为坏像素的步骤包括:根据判断结果判断每一第三像素是否为过曝光;对于每一第三像素,若对应的第三像素为过曝光,则更新一个计数值;对于每一第三像素,若对应的第三像素不为过曝光,则根据对应的第三像素的颜色值与当前像素的颜色值之间的差值来更新计数值;判断计数值是否大于第三临界值;以及若计数值不大于第三临界值,判断当前像素不为坏像素。

在一实施例中,上述根据对应的第三像素的颜色值与当前像素的颜色值之间的差值来更新计数值的步骤包括:根据当前像素的颜色值来决定第四临界值与第五临界值;若差值大于第四临界值,更新计数值;若差值小于第五临界值,更新计数值;以及若差值介于第四临界值与第五临界值之间,则维持计数值不变。

在一实施例中,上述判断当前像素是否为坏像素的步骤还包括:若计数值大于第三临界值,判断所述第三像素的其中之一是否为过曝光;以及若所述第三像素的其中之任一为过曝光,判断当前像素为坏像素。

在一实施例中,上述修正当前像素的步骤包括:根据具有第一曝光时间的所述第三像素来修正当前像素。

在一实施例中,上述根据具有第一曝光时间的所述第三像素来修正当前像素的步骤是根据加权平均算法所执行。

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