[发明专利]阵列基板及其制造方法、显示装置有效

专利信息
申请号: 201310310000.7 申请日: 2013-07-23
公开(公告)号: CN103413811A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 李田生;郭建;谢振宇 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 阵列 及其 制造 方法 显示装置
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,包括显示区域和GOA区域,其特征在于:在所述GOA区域,从下至上依次形成有栅极金属、栅绝缘层、有源层、过渡层、源漏极金属,且开设有贯穿所述过渡层、所述有源层和所述栅绝缘层的过孔,所述源漏极金属通过所述过孔与所述栅极金属电连接;

其中,所述过渡层的刻蚀速率大于所述有源层的刻蚀速率。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于:所述过渡层的材料为氮化硅。

3.根据权利要求1或2所述的阵列基板,其特征在于:所述显示区域中的薄膜晶体管区域,从下至上依次包括栅极、栅绝缘层、有源层、源极和漏极;

所述源极和所述漏极分别位于所述有源层的两侧,并与所述有源层连接。

4.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:

在衬底基板上形成GOA区域的栅极金属和显示区域的栅线和栅极;

在所述衬底基板上依次沉积栅绝缘层、有源层、过渡层,所述过渡层的刻蚀速率大于所述有源层的刻蚀速率;

刻蚀掉所述GOA区域的过渡层、有源层、栅绝缘层,以及所述显示区域中的薄膜晶体管区域的过渡层和部分有源层,使所述GOA区域形成过孔;

在所述GOA区域形成源漏极金属,同时在所述显示区域形成数据线、源极和漏极,其中,所述源漏极金属通过所述过孔与所述栅极金属电连接。

5.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于:所述刻蚀掉所述GOA区域的过渡层、有源层、栅绝缘层,以及所述显示区域中的薄膜晶体管区域的过渡层和部分有源层,在所述GOA区域形成过孔,具体为:

在所述衬底基板上涂覆一层光刻胶,并通过灰色调掩膜工艺和灰化工艺,使所述光刻胶形成完全去除区域、部分保留区域和完全保留区域,其中,所述完全去除区域对应所述栅极金属所在的区域,所述部分保留区域对应所述显示区域中的薄膜晶体管区域,所述完全保留区域对应其余的区域;

刻蚀掉所述完全去除区域的过渡层、有源层、栅绝缘层,在所述GOA区域形成过孔;

通过灰化工艺,去除所述部分保留区域的光刻胶;

刻蚀掉所述部分保留区域的过渡层和部分有源层;

通过灰化工艺,去除所述完全保留区域的光刻胶。

6.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于:在所述GOA区域形成源漏极金属,同时在所述显示区域形成数据线、源极和漏极之后,还包括:

在衬底基板上形成像素电极;

在所述衬底基板上形成保护层。

7.根据权利要求6所述的制造方法,其特征在于:在所述衬底基板上形成保护层之后还包括:

在所述衬底基板上形成公共电极。

8.一种显示装置,其特征在于:包括权利要求1至3任一项所述的阵列基板。

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