[发明专利]阵列基板及其制造方法、显示装置有效
申请号: | 201310310000.7 | 申请日: | 2013-07-23 |
公开(公告)号: | CN103413811A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 李田生;郭建;谢振宇 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 制造 方法 显示装置 | ||
1.一种阵列基板,包括显示区域和GOA区域,其特征在于:在所述GOA区域,从下至上依次形成有栅极金属、栅绝缘层、有源层、过渡层、源漏极金属,且开设有贯穿所述过渡层、所述有源层和所述栅绝缘层的过孔,所述源漏极金属通过所述过孔与所述栅极金属电连接;
其中,所述过渡层的刻蚀速率大于所述有源层的刻蚀速率。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于:所述过渡层的材料为氮化硅。
3.根据权利要求1或2所述的阵列基板,其特征在于:所述显示区域中的薄膜晶体管区域,从下至上依次包括栅极、栅绝缘层、有源层、源极和漏极;
所述源极和所述漏极分别位于所述有源层的两侧,并与所述有源层连接。
4.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:
在衬底基板上形成GOA区域的栅极金属和显示区域的栅线和栅极;
在所述衬底基板上依次沉积栅绝缘层、有源层、过渡层,所述过渡层的刻蚀速率大于所述有源层的刻蚀速率;
刻蚀掉所述GOA区域的过渡层、有源层、栅绝缘层,以及所述显示区域中的薄膜晶体管区域的过渡层和部分有源层,使所述GOA区域形成过孔;
在所述GOA区域形成源漏极金属,同时在所述显示区域形成数据线、源极和漏极,其中,所述源漏极金属通过所述过孔与所述栅极金属电连接。
5.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于:所述刻蚀掉所述GOA区域的过渡层、有源层、栅绝缘层,以及所述显示区域中的薄膜晶体管区域的过渡层和部分有源层,在所述GOA区域形成过孔,具体为:
在所述衬底基板上涂覆一层光刻胶,并通过灰色调掩膜工艺和灰化工艺,使所述光刻胶形成完全去除区域、部分保留区域和完全保留区域,其中,所述完全去除区域对应所述栅极金属所在的区域,所述部分保留区域对应所述显示区域中的薄膜晶体管区域,所述完全保留区域对应其余的区域;
刻蚀掉所述完全去除区域的过渡层、有源层、栅绝缘层,在所述GOA区域形成过孔;
通过灰化工艺,去除所述部分保留区域的光刻胶;
刻蚀掉所述部分保留区域的过渡层和部分有源层;
通过灰化工艺,去除所述完全保留区域的光刻胶。
6.根据权利要求4所述的制造方法,其特征在于:在所述GOA区域形成源漏极金属,同时在所述显示区域形成数据线、源极和漏极之后,还包括:
在衬底基板上形成像素电极;
在所述衬底基板上形成保护层。
7.根据权利要求6所述的制造方法,其特征在于:在所述衬底基板上形成保护层之后还包括:
在所述衬底基板上形成公共电极。
8.一种显示装置,其特征在于:包括权利要求1至3任一项所述的阵列基板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的