[发明专利]具有透镜组件的图像检测器及相关方法有效
申请号: | 201310323388.4 | 申请日: | 2013-07-25 |
公开(公告)号: | CN104347644B | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 栾竟恩 | 申请(专利权)人: | 意法半导体研发(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 518057 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 粘结层 透镜组件 衬底 透镜 图像检测器 图像传感器 间隔物 外围表面 遮光件 对准 | ||
1.一种电子设备,包括:
衬底,包括介电层以及在所述介电层之上的多个导电迹线;
在所述衬底之上的图像传感器集成电路(IC);以及
在所述衬底上方的透镜组件,包括:
在所述衬底上方的间隔物,
在所述间隔物之上的第一粘结层,
与所述图像传感器集成电路对准并且在所述第一粘结层之上的至少一个透镜,
围绕所述至少一个透镜和所述第一粘结层的外围表面的第二粘结层,以及
在所述至少一个透镜和所述第二粘结层之上的遮光件。
2.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述间隔物、所述第二粘结层以及所述遮光件具有对准的外围表面。
3.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述第二粘结层包括不透明材料。
4.根据权利要求1所述的电子设备,还包括邻近所述衬底的另一集成电路;并且其中所述至少一个透镜包括与所述图像传感器集成电路对准的第一透镜以及与所述另一集成电路对准的第二透镜。
5.根据权利要求4所述的电子设备,其中所述另一集成电路包括光源集成电路和附加的图像传感器集成电路中的至少一种。
6.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述至少一个透镜包括具有第一相对侧和第二相对侧的基部层,在所述第一相对侧上的凸透镜层,以及在所述第二相对侧上的凹透镜层。
7.根据权利要求1所述的电子设备,还包括在所述衬底与所述透镜组件之间的第三粘结层。
8.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述衬底包括在所述介电层之上并且耦合至所述多个导电迹线的多个导电接触。
9.根据权利要求1所述的电子设备,其中所述至少一个透镜包括滤光透镜。
10.一种用于电子设备的透镜组件,所述电子设备具有包括介电层和在所述介电层之上的多个导电迹线的衬底、以及在所述衬底之上的图像传感器集成电路(IC),所述透镜组件包括:
在所述衬底上方的间隔物;
在所述间隔物之上的第一粘结层;
与所述图像传感器集成电路对准并且在所述第一粘结层之上的至少一个透镜;
围绕所述至少一个透镜和所述第一粘结层的外围表面的第二粘结层;以及
在所述至少一个透镜和所述第二粘结层之上的遮光件。
11.根据权利要求10所述的透镜组件,其中所述间隔物、所述第二粘结层以及所述遮光件具有对准的外围表面。
12.根据权利要求10所述的透镜组件,其中所述第二粘结层包括不透明材料。
13.根据权利要求10所述的透镜组件,其中所述至少一个透镜包括具有第一相对侧和第二相对侧的基部层,在所述第一相对侧上的凸透镜层,以及在所述第二相对侧上的凹透镜层。
14.一种制作多个透镜组件的方法,包括:
利用第一粘结层将透镜晶片粘性接合到间隔物晶片,所述透镜晶片包括多个透镜;
形成穿过所述透镜晶片和所述第一粘结层延伸并且进入所述间隔物晶片的多个凹陷,每个凹陷在相邻透镜之间;
利用第二粘结层填充所述凹陷;
将遮光件晶片粘性接合到所述第二粘结层上;并且
对接合在一起的间隔物晶片、透镜晶片以及遮光件晶片进行划切以限定所述多个透镜组件。
15.根据权利要求14所述的方法,其中所述间隔物晶片包括多个开口;并且其中将所述透镜晶片粘性接合到所述间隔物晶片包括将所述多个开口与所述多个透镜对准。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的