[发明专利]一种基于III-V族氮化镓智能功率集成电路的实现方法在审

专利信息
申请号: 201310326457.7 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN104347522A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 谢刚;陈琛;盛况;崔京京 申请(专利权)人: 浙江大学苏州工业技术研究院
主分类号: H01L21/8258 分类号: H01L21/8258
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215163 江苏省苏州市高新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 iii 氮化 智能 功率 集成电路 实现 方法
【权利要求书】:

1.一种基于III-V族氮化镓智能功率集成电路的实现方法,其特征在于: 

GaN半导体材料制备的半导体器为宽禁带半导体材料器件,承受较高电压,可应用于高压电子器件领域; 

Si材料制备的半导体器件,承受电压能力较低,主要用于驱动的数字逻辑电路以及低压模拟电路; 

所述的GaN半导体材料制备的半导体装置是基于<111>晶向衬底外延上制作的; 

所述的Si半导体材料制备的半导体装置是基于<100>晶向衬底上制作的; 

所述的基于<111>晶向衬底的材料与所述基于<100>晶向衬底的材料通过一定的方法键合集成。 

2.如权利要求1所述的GaN半导体材料制备的半导体装置结构,所述半导体装置衬底包括晶向为<111>的任意掺杂的Si基衬底。 

3.如权利要求1所述的Si基半导体材料制备的半导体装置结构,所述半导体装置衬底为任意掺杂的<100>晶向的硅材料。 

4.如权利要求1所述的<111>晶向的衬底与所述的<100>晶向的衬底通过一定的方法利用SOI技术达到键合集成的目的。 

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