[发明专利]一种基于III-V族氮化镓智能功率集成电路的实现方法在审
申请号: | 201310326457.7 | 申请日: | 2013-07-31 |
公开(公告)号: | CN104347522A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 谢刚;陈琛;盛况;崔京京 | 申请(专利权)人: | 浙江大学苏州工业技术研究院 |
主分类号: | H01L21/8258 | 分类号: | H01L21/8258 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215163 江苏省苏州市高新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 iii 氮化 智能 功率 集成电路 实现 方法 | ||
1.一种基于III-V族氮化镓智能功率集成电路的实现方法,其特征在于:
GaN半导体材料制备的半导体器为宽禁带半导体材料器件,承受较高电压,可应用于高压电子器件领域;
Si材料制备的半导体器件,承受电压能力较低,主要用于驱动的数字逻辑电路以及低压模拟电路;
所述的GaN半导体材料制备的半导体装置是基于<111>晶向衬底外延上制作的;
所述的Si半导体材料制备的半导体装置是基于<100>晶向衬底上制作的;
所述的基于<111>晶向衬底的材料与所述基于<100>晶向衬底的材料通过一定的方法键合集成。
2.如权利要求1所述的GaN半导体材料制备的半导体装置结构,所述半导体装置衬底包括晶向为<111>的任意掺杂的Si基衬底。
3.如权利要求1所述的Si基半导体材料制备的半导体装置结构,所述半导体装置衬底为任意掺杂的<100>晶向的硅材料。
4.如权利要求1所述的<111>晶向的衬底与所述的<100>晶向的衬底通过一定的方法利用SOI技术达到键合集成的目的。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造