[发明专利]分析设备验证系统和分析设备验证方法有效
申请号: | 201310329184.1 | 申请日: | 2013-07-31 |
公开(公告)号: | CN103575856A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 辻井贯也 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00;G01N30/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 设备 验证 系统 方法 | ||
1.一种分析设备验证系统,用于执行分析设备系统的验证,所述分析设备验证系统包括:
参数获取单元,用于从所述分析设备系统的电子供给的合格性评价计划文档和电子供给的合格性评价实施过程手册中获取所述分析设备系统的合格性评价实施用参数;以及
验证执行单元,用于使用获取到的所述合格性评价实施用参数来执行所述分析设备系统的验证。
2.根据权利要求1所述的分析设备验证系统,其中,还包括报告创建单元,所述报告创建单元用于基于通过执行所述验证所获得的验证结果来以预定格式创建所述分析设备系统的合格性评价报告。
3.一种分析设备验证系统,用于执行分析设备系统的验证,所述分析设备验证系统包括:
参数获取单元,用于从电子供给的合格性评价基本计划文档中获取合格性评价实施用参数;
过程手册创建单元,用于向电子供给的合格性评价实施基本过程手册添加所述合格性评价实施用参数,由此创建合格性评价实施过程手册;以及
验证执行单元,用于基于所创建的所述合格性评价实施过程手册来执行所述分析设备系统的验证。
4.一种分析设备验证方法,用于执行分析设备系统的验证,所述分析设备验证方法包括:
参数获取步骤,用于从所述分析设备系统的电子供给的合格性评价计划文档和电子供给的合格性评价实施过程手册中获取所述分析设备系统的合格性评价实施用参数;以及
验证执行步骤,用于使用获取到的所述合格性评价实施用参数来执行所述分析设备系统的验证。
5.根据权利要求4所述的分析设备验证方法,其中,还包括报告创建步骤,所述报告创建步骤用于基于通过执行所述验证所获得的验证结果来以预定格式创建所述分析设备系统的合格性评价报告。
6.一种分析设备验证方法,用于执行分析设备系统的验证,所述分析设备验证方法包括:
参数获取步骤,用于从电子供给的合格性评价基本计划文档中获取合格性评价实施用参数;
过程手册创建步骤,用于向电子供给的合格性评价实施基本过程手册添加所述合格性评价实施用参数,由此创建合格性评价实施过程手册;以及
验证执行步骤,用于基于所创建的所述合格性评价实施过程手册来执行所述分析设备系统的验证。
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