[发明专利]一种电容屏OGS结构制作工艺及其用于制造OGS结构的涂布刀头有效

专利信息
申请号: 201310329979.2 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN103408230A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 沈励;许沭华;胡里程 申请(专利权)人: 芜湖长信科技股份有限公司
主分类号: C03C17/36 分类号: C03C17/36
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 朱圣荣
地址: 安徽省芜湖市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 电容 ogs 结构 制作 工艺 及其 用于 制造 刀头
【说明书】:

技术领域

发明涉及电容触控屏的生产设备及其生产工艺。 

背景技术

在社会进步快速发展下,人们对触摸屏追求越来越高。为了满足智能终端超薄化和提升显示效果需求,OGS结构已经得到广泛的运用,OGS即在保护玻璃(盖板)上直接形成ITO导电膜及传感器的技术。一块玻璃同时起到保护玻璃和触摸传感器的双重作用,能达到节省了一层玻璃成本和减少了一次贴合成本,减轻了重量及厚度; 增加了透光度,将是高端品牌终端的必然选择。 

目前OGS结构产品其触摸屏必须形成在ITO导电膜及传感器技术的保护玻璃(盖板)上,制成过程采用黄光技术制作出BM(黑色光刻胶)边框图案层来代替原本单片,ITO导电膜与盖板贴合技术中的贴合盖板上油墨边框图案。同时在制作OGS结构产品中,由于BM光刻胶在正常溅镀温度为300-350℃真空磁控溅射方式溅镀ITO时不能耐高温,会导致产品存在以下几个问题: 

1、在正常300-350℃真空磁控溅射方式溅镀ITO时, BM光刻胶中很有一定的稀释剂水分,产生溅镀时有“放气”现象。破坏镀膜机腔体真空度,导致溅镀出来的ITO面电阻难以控制在标准范围内; 

2、BM在正常高温溅镀温度为300-350℃下。由于BM耐高温性差导致高温溅镀后BM光刻胶与玻璃附着力不佳,在制作完成出货时可依赖性测试中(高温,高湿。冷热冲击测试)会有脱落现象; 

3、正常GOS metal-jumper制程结构,金属跳跃图层反射率高,外观会存在跳跃导体图层眩光产生“麻点”现象影响外观,往往达不到高端客户需要。  

发明内容

本发明所要解决的技术问题是实现一种可以避免metal-jumper结构生产时外观麻点的现象。 

为了实现上述目的,本发明采用的技术方案为:一种电容屏OGS结构制作工艺,制造步骤如下:

步骤1、在盖板玻璃一面镀制ITO层; 

步骤2、将ITO层制作成高温ITO跳跃导体层,同时在边缘制作出两组对位靶标; 

步骤3、涂布光刻胶,设有对位靶标的边缘部分不涂布光刻胶,并利用步骤2中一组对位靶标将涂布的光刻胶制成BM边框; 

步骤4、利用步骤2中另一组对位靶标将制作绝缘架桥层,再在边缘制作出三组对位靶标; 

步骤5、镀制ITO层; 

步骤6、利用步骤4中的一组对位靶标将ITO层制成低温ITO单元图案层; 

步骤7、在低温ITO单元图案层上镀上一层金属导电层; 

步骤8、利用步骤4中的一组对位靶标将金属导电层制作成导电图层; 

步骤9、利用步骤4中的一组对位靶标在导电图层外制作一层树脂保护层。 

进一步的,所述的步骤1中ITO层采用真空磁控溅射方法进行高温镀制。 

进一步的,所述的步骤1、2中由ITO层制成高温ITO跳跃导体层采用触摸屏黄光光刻方式制作,依次对ITO层进行清洗、涂布、软烤、曝光、显影、硬烤、蚀刻、剥膜。 

进一步的,所述的步骤3中由光刻胶制成BM边框采用触摸屏黄光光刻方式制作,依次对BM黑膜层进行清洗、涂布、软烤、曝光、显影、硬烤。 

进一步的,所述的步骤4绝缘架桥层制作于BM边框上,采用触摸屏黄光光刻方式制作,依次进行涂布,烘烤,曝光、显影,硬烤工艺处理。 

进一步的,所述的步骤5中ITO层采用真空磁控溅射方法进行低温镀制,渡制温度为25-35℃。 

进一步的,所述的步骤5、6中由ITO层制成低温ITO单元图案层采用触摸屏黄光光刻方式制作,依次对ITO层进行清洗、涂布、软烤、曝光、显影、硬烤、蚀刻、烘烤、剥膜,其中所述的烘烤温度为200-220℃,持续时间20-30分钟。 

进一步的,所述的步骤7中由金属导电层制成导电图层采用触摸屏黄光光刻方式制作,依次对金属导电层进行清洗、涂布、软烤、曝光、显影、硬烤、蚀刻、剥膜。 

一种用于制造OGS结构的涂布刀头,所述的涂布刀头由两个刀片合并构成,所述的刀片之间存在涂布间隙,所述的间隙两端各设有一个垫片,所述的垫片之间的间距小于盖板玻璃宽度。 

所述的垫片之间的间距小于盖板玻璃宽度20mm,所述的垫片厚度为40um。 

本发明的优点在于,通过该工艺方式制作电容屏可以有效保证产品质量,同时该工艺通过颠倒制作工序以及改造涂布机刀头避让靶标的方式,使对位靶标不被BM光刻胶遮挡,可以有效确保产品能达到一些高端客户需求,避免外观麻点现象的发生。 

附图说明

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