[发明专利]显示装置有效

专利信息
申请号: 201310335796.1 申请日: 2009-08-27
公开(公告)号: CN103400838A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 山崎舜平;秋元健吾;小森茂树;鱼地秀贵;二村智哉;笠原崇广 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/12;H01L29/786
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱孟清
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示装置
【权利要求书】:

1.一种显示装置,包括:

衬底上的布线;

所述衬底上的像素,所述像素包括像素晶体管;以及

所述衬底上的保护电路,所述保护电路至少包括第一晶体管和第二晶体管,

其中所述像素晶体管包括:

电连接到所述布线的栅电极;

其中所述第一晶体管和所述第二晶体管中的每一个包括:

栅电极;

所述栅电极上的栅绝缘膜;

所述栅绝缘膜上的氧化物半导体层;以及

在所述氧化物半导体层上且与所述氧化物半导体层接触的源电极和漏电极,其中所述源电极和所述漏电极之一电连接到所述布线。

2.一种显示装置,包括:

衬底上的布线;

所述衬底上的像素,所述像素包括像素晶体管;

所述衬底上的保护电路,所述保护电路至少包括第一晶体管和第二晶体管;以及

所述布线上的保护绝缘膜,

其中所述像素晶体管包括:

电连接到所述布线的栅电极;

其中所述第一晶体管和所述第二晶体管中的每一个包括:

栅电极;

所述栅电极上的栅绝缘膜;

所述栅绝缘膜上的氧化物半导体层;以及

在所述氧化物半导体层上且与所述氧化物半导体层接触的源电极和漏电极,其中所述源电极和所述漏电极之一电连接到所述布线,

其中所述保护绝缘膜设置在所述氧化物半导体层、所述源电极、所述漏电极、以及所述布线上,以及

其中所述保护绝缘膜包含氧和硅。

3.一种显示装置,包括:

衬底上的布线;

所述衬底上的像素,所述像素包括像素晶体管;

所述衬底上的保护电路,所述保护电路至少包括第一晶体管和第二晶体管;以及

所述布线上的保护绝缘膜,

其中所述像素晶体管包括:

电连接到所述布线的栅电极;

其中所述第一晶体管和所述第二晶体管中的每一个包括:

栅电极;

所述栅电极上的栅绝缘膜;

所述栅绝缘膜上的氧化物半导体层;以及

在所述氧化物半导体层上且与所述氧化物半导体层接触的源电极和漏电极,其中所述源电极和所述漏电极之一电连接到所述布线,

其中所述保护绝缘膜设置在所述氧化物半导体层、所述源电极、所述漏电极、以及所述布线上,

其中所述保护绝缘膜包含氧和硅,以及

其中所述栅绝缘膜包含氧和硅。

4.如权利要求1至3中的任一项所述的显示装置,其特征在于,还包括像素电极,所述像素电极电连接到所述像素晶体管的源电极和漏电极之一。

5.如权利要求1至3中的任一项所述的显示装置,其特征在于,所述氧化物半导体层包含铟、镓和锌。

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