[发明专利]显示装置有效

专利信息
申请号: 201310335796.1 申请日: 2009-08-27
公开(公告)号: CN103400838A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 山崎舜平;秋元健吾;小森茂树;鱼地秀贵;二村智哉;笠原崇广 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/12;H01L29/786
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱孟清
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 显示装置
【说明书】:

本申请是申请日为2009年8月27日、发明名称为“显示装置”、申请号为200980137189.6的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种包括氧化物半导体的显示装置。

背景技术

以液晶显示装置为代表的形成在诸如玻璃衬底的平板上的薄膜晶体管使用非晶硅、或多晶硅制造。使用非晶硅的薄膜晶体管具有如下特性:虽然其场效应迁移率低,但是这种晶体管适合于在玻璃衬底上大面积地形成。另一方面,使用结晶硅制造的薄膜晶体管具有如下特性:虽然其场效应迁移率高,但是需要进行激光退火等的结晶化工序,因此其不一定适合于较大玻璃衬底。

另一方面,使用氧化物半导体制造薄膜晶体管,并将其应用于电子装置或光学装置的技术受到注目。例如,专利文献1及专利文献2公开作为氧化物半导体膜使用氧化锌(ZnO)、In-Ga-Zn-O类氧化物半导体来制造薄膜晶体管,并将这种晶体管用作图像显示装置的开关元件等的技术。

[专利文献1]日本专利申请公开2007-123861号公报

[专利文献2]日本专利申请公开2007-96055号公报

发明内容

将氧化物半导体用作沟道形成区域的薄膜晶体管具有如下特性:其工作速度比使用非晶硅的薄膜晶体管快,并且其制造工序比使用多晶硅的薄膜晶体管简单。换言之,通过使用氧化物半导体,即使在300℃以下的低温下也可以制造场效应迁移率高的薄膜晶体管。

为了有效地利用工作特性优良并可在低温下制造的包括氧化物半导体的显示装置的特征,包括适当的结构的保护电路是必要的。此外,重要的是,保证包括氧化物半导体的显示装置的可靠性。

本发明的一实施例的目的在于提供适合于保护电路的结构。

本发明的一实施例的目的在于:在通过层叠除氧化物半导体以外的绝缘膜及导电膜来制造的各种用途的显示装置中,增强保护电路的功能并使工作稳定化。

本发明的一实施例是一种显示装置,其中保护电路使用包括氧化物半导体的非线性元件形成。该非线性元件包括氧含量不同的氧化物半导体的组合。

本发明的示例性实施例是一种显示装置,包括:在具有绝缘表面的衬底上彼此交叉地设置的扫描线和信号线,像素电极排列为矩阵的像素部;以及在该像素部的外部区域中使用氧化物半导体形成的非线性元件。像素部包括将沟道形成区域形成于第一氧化物半导体层中的薄膜晶体管。像素部中的薄膜晶体管包括:连接至扫描线的栅电极;连接至信号线并与第一氧化物半导体层接触的第一布线层;以及连接至像素电极并与第一氧化物半导体层接触的第二布线层。此外,在像素部和置于衬底周边部的信号输入端子之间设置有非线性元件。非线性元件包括:栅电极;覆盖该栅电极的栅极绝缘层;在栅极绝缘层上重叠于栅电极的第一氧化物半导体层;以及其端部在第一氧化物半导体层上与栅电极重叠,且其中层叠有导电层和第二氧化物半导体层的一对第一布线层及第二布线层。非线性元件的栅电极连接至扫描线或信号线连接,且非线性元件的第一布线层或第二布线层通过第三布线层连接至栅电极,从而向第一布线层或第二布线层施加栅电极电位。

本发明的一示例性实施例是一种显示装置,包括:在具有绝缘表面的衬底上彼此交叉地设置的扫描线与信号线,像素电极排列为矩阵的像素部;以及该像素部的外部区域中的保护电路。像素部包括将沟道形成区域形成于第一氧化物半导体层的薄膜晶体管。像素部中的薄膜晶体管包括:连接至扫描线的栅电极;连接至信号线并与第一氧化物半导体层接触的第一布线层;以及连接至像素电极并与第一氧化物半导体层接触的第二布线层。在像素部的外部区域中设置有用于使扫描线与公共布线相互连接的保护电路、以及使信号线和公共布线相互连接的保护电路。保护电路包括非线性元件,该非线性元件包括:栅电极;覆盖该栅电极的栅极绝缘层;在栅极绝缘层上与栅电极重叠的第一氧化物半导体层;以及其端部在第一氧化物半导体层上与栅电极重叠,且其中层叠有导电层和第二氧化物半导体层的一对第一布线层及第二布线层。此外,非线性元件的第一布线层或第二布线层通过第三布线层连接至栅电极。

在此,第一氧化物半导体层的氧浓度高于第二氧化物半导体层的氧浓度。换言之,第一氧化物半导体层是氧过量型,并且第二氧化物半导体层是氧缺乏型。第一氧化物半导体层的导电率低于第二氧化物半导体层的导电率。第一氧化物半导体层及第二氧化物半导体层具有非单晶结构,并包含至少一种非晶成分。另外,第二氧化物半导体层有时在非晶结构中包含纳米晶体。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310335796.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top