[发明专利]喷淋头以及气相沉积反应腔无效
申请号: | 201310347789.3 | 申请日: | 2013-08-09 |
公开(公告)号: | CN103436858A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 梁秉文 | 申请(专利权)人: | 光垒光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/452 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 200050 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 喷淋 以及 沉积 反应 | ||
1.一种用于气相沉积的反应腔的喷淋头,所述反应腔包括气体反应区域,所述喷淋头邻近所述气体反应区域设置,所述喷淋头用于向所述气体反应区域输出反应气体,所述喷淋头至少包括第一源气体腔和冷却腔,所述第一源气体腔内通入第一源气体;
其特征在于:所述喷淋头还包括一离子化腔,所述第一源气体腔设置在所述喷淋头背离所述气体反应区域的一侧,所述离子化腔设置在所述喷淋头面向所述气体反应区域的一侧,所述离子化腔内通入第二源气体,以对所述第二源气体进行离子化,所述离子化腔与所述气体反应区域之间设置有出气通道,所述离子化腔与所述气体反应区域之间通过所述出气通道连通,所述第一源气体腔至少与一第一气管连通,所述第一气管穿过所述冷却腔和离子化腔,并连通所述气体反应区域;
其中,所述第二源气体的分解温度高于所述第一源气体的分解温度。
2.如权利要求1所述的喷淋头,其特征在于:所述第一源气体腔和所述冷却腔之间还设置有一第二源气体腔,所述第二源气体腔内通有所述第二源气体,所述第二源气体腔与至少一第二气管连通,所述第二气管穿过所述冷却腔,并连通所述离子化腔,以向所述离子化腔内通入所述第二源气体,所述第一气管还穿过所述第二源气体腔。
3.如权利要求1所述的喷淋头,其特征在于:所述第一源气体腔、冷却腔和离子化腔依次层叠设置,所述离子化腔还具有一气体输入管,所述第二源气体通过所述气体输入管流入所述离子化腔。
4.如权利要求3所述的喷淋头,其特征在于:所述气体输入管位于所述离子化腔的侧壁。
5.如权利要求1-4中任意一项所述的喷淋头,其特征在于:所述离子化腔中具有相对设置的第一电极以及第二电极,在所述第一电极和第二电极之间施加射频信号。
6.如权利要求5所述的喷淋头,其特征在于:所述第一电极为所述离子化腔的顶壁,所述第二电极为所述离子化腔的底壁,所述第一电极和第二电极之间具有一绝缘垫。
7.如权利要求6所述的喷淋头,其特征在于:所述绝缘垫为所述离子化腔的侧壁。
8.如权利要求1所述的喷淋头,其特征在于:所述出气通道为气体孔。
9.如权利要求8所述的喷淋头,其特征在于:所述气体孔的直径大于所述第一气管的直径,所述第一气管设置于所述气体孔中。
10.如权利要求1所述的喷淋头,其特征在于:所述第一源气体为三甲基镓、三甲基铝或三甲基铟中的一种或几种的组合,所述第二源气体为磷化氢、砷化氢或氨气中的一种或几种的组合。
11.一种气相沉积反应腔,其包括腔体、用于装载衬底的托盘和喷淋头,所述托盘设置于所述腔体的底部,所述喷淋头设置在所述腔体的顶部并与所述托盘相对设置,所述托盘与所述喷淋头之间限定气体反应区域,所述喷淋头用于向所述气体反应区域输出反应气体,其特征在于:所述喷淋头为如权利要求1-10中任意一项所述的喷淋头。
12.如权利要求11所述的气相沉积反应腔,其特征在于:在气相沉积工艺时,所述托盘的温度为500℃~900℃。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的