[发明专利]测量仪器线激光测头校准系统及方法在审

专利信息
申请号: 201310369879.2 申请日: 2013-08-22
公开(公告)号: CN104422399A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 张滋;徐韦;陈斌;屈保锋 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量 仪器 激光 校准 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种测量仪器线激光测头校准系统,运行于测量仪器中,其特征在于,该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头,所述系统包括:

第一测量模块,用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量,并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据;

第一计算模块,用于利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据,计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值;

第二测量模块,用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量,并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数据;

第二计算模块,用于根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮廓数据,计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值;

获取模块,用于设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准,根据所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据,并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值;及

第三计算模块,用于根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。

2.如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统,其特征在于,该系统还包括:

第一接收模块,用于接收用户输入的所述第一标准件的待测轮廓范围;及

第一判断模块,用于判断所述获取到的第一标准件的轮廓数据是否在所述用户输入的第一标准件的待测轮廓范围内,若所述获取到的第一标准件的轮廓数据不在用户输入的待测轮廓范围内,则由所述测量模块利用第一线激光测头和第二线激光测头重新测量并获取第一标准件的轮廓数据,并提示用户重新输入第一标准件的待测轮廓范围。

3.如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统,其特征在于,该系统还包括:

第二接收模块,用于接收用户输入的所述第二标准件的待测轮廓范围;及

第二判断模块,用于判断所述获取到的第二标准件的轮廓数据是否在所述用户输入的第二标准件的待测轮廓范围内,若所述获取到的第二标准件的轮廓数据不在用户输入的待测轮廓范围内,则由所述测量模块利用第一线激光测头和第二线激光测头重新测量第二标准件并获取第二标准件的轮廓数据,并提示用户重新输入第二标准件的待测轮廓范围。

4.如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统,其特征在于,所述获取模块对所述第二线激光测头测量的所述第一标准件的轮廓数据进行校准是通过旋转所述倾角值,并作平移所述位差值和间距值来实现的。

5.如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统,其特征在于,所述第一标准件为上下表面平整的物体,所述第二标准件为表面为规则的圆形物体。

6.一种测量仪器线激光测头校准方法,运行于测量仪器中,其特征在于,该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头,该方法包括:

第一测量步骤,利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量,并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据;

第一计算步骤,利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据,计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值;

第二测量步骤,利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量,并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数据;

第二计算步骤,根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮廓数据,计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值;

获取步骤,设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准,根据所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据,并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值;及

第三计算步骤,根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。

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