[发明专利]测量仪器线激光测头校准系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量仪器校准的系统及方法，尤其涉及一种测量仪器线激光测头校准系统及方法。

背景技术

目前测量仪器利用线激光测头测量待测物体时，一个线激光测头只能测量到该待测物体的一个表面的轮廓数据，对于同时需要测量待测物体的两个表面的轮廓数据而得到待测物体的测量值（例如需要得到待测物体的厚度）则不能实现。当采用两个线激光测头测量待测物体两个表面时，由于两个线激光测头安装角度的不一致以及两个线激光测头规格的不一致，可能会造成待测物体测得的轮廓之间存在误差，使得待测物体的测量值出现偏差。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测量仪器线激光测头校准系统，可以对两个线激光测头测量得到的轮廓数据进行校准。

还有必要提供一种测量仪器线激光测头校准方法，可以对两个线激光测头测量得到的轮廓数据进行校准。

一种测量仪器线激光测头校准系统，运行于测量仪器中，该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头，所述系统包括：第一测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据；第一计算模块，用于利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据，计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值；第二测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数据；第二计算模块，用于根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮廓数据，计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值；获取模块，用于设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准，根据所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据，并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值；及第三计算模块，用于根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。

一种测量仪器线激光测头校准方法，运行于测量仪器中，该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头，该方法包括：第一测量步骤，利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据；第一计算步骤，利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据，计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值；第二测量步骤，利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数据；第二计算步骤，根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮廓数据，计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值；获取步骤，设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准，根据所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据，并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值；及第三计算步骤，根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。

相较于现有技术，所述测量仪器线激光测头校准系统及方法，在测量仪器上安装了两个线激光测头，实现同时量测待测物体的两个表面的轮廓数据，并对两个线激光测头之间的误差进行校准，使得两个线激光测头相互配合测量物体，使得测量的轮廓数据更加精确。

附图说明

图1是本发明测量仪器线激光测头校准系统较佳实施例的运行环境图。

图2是本发明测量仪器线激光测头校准系统较佳实施例的功能模块图。

图3是本发明测量仪器线激光测头校准方法较佳实施例的作业流程图。

图4是本发明中第一标准件的轮廓数据测量示意图。

图5是本发明中第二标准价的轮廓数据测量示意图。

图6是本发明中校准第二线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据的较佳实施例示意图。

主要元件符号说明

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式