[发明专利]栅格图像处理器测试方法及系统

权利要求书

1.一种栅格图像处理器测试方法，其特征在于，包括：

使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；

将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；

如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；

否则，确定所述待测试RIP不合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较包括：

判断所述测试图元轮廓点阵是否完全被基准加粗轮廓点阵包含，以及是否完全包含基准减细轮廓点阵。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；

将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；

如果所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值，则确定所述待测试RIP合格；

否则，确定所述待测试RIP不合格。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；

将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：

预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。

6.一种栅格图像处理器测试系统，其特征在于，包括：

轮廓处理模块，用于使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；

轮廓比较模块，用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；

结果输出模块，用于在所述轮廓比较模块的比较结果是所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，

所述轮廓比较模块，具体用于判断所述测试图元轮廓点阵是否完全被基准加粗轮廓点阵包含，以及是否完全包含基准减细轮廓点阵。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括：

灰度处理模块，用于使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；

灰度比较模块，用于将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；

所述结果输出模块，还用于在所述灰度比较模块的比较结果是所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。

9.根据权利要求6至8任一项所述的系统，其特征在于，

所述轮廓处理模块，还用于预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，

所述灰度处理模块，还用于预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。