[发明专利]栅格图像处理器测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及印刷技术领域，具体而言，涉及一种栅格图像处理器测试方法及系统。

背景技术

RIP（Raster Image Processor，栅格图像处理器）是一种转换处理器，用于将页面描述语言所描述的版面信息解释转换为可供输出设备输出的数据信息（一般是位图或点阵，亦即栅格图像）。RIP是整个印前行业的核心软件，一个桌面出版系统的输出质量、输出速度和开放性及兼容性在很大程度上取决于所用RIP的优劣。

目前，对RIP产品的测试流程为：测试人员将测试样例提交至待测试的RIP和作为对照基准的RIP，经RIP处理后，分别输出点阵，然后比较二者的点阵是否存在差异。若测试人员在人眼可识别的范围内未发现差异，则认为待测试的RIP正确处理了此测试样例。若待测试的RIP对一个大的测试样例集合均能正确处理，则认为此RIP通过测试。

从上述RIP的测试流程可以看出手工测试的方法存在一系列缺陷，如测试样例手动提交较为繁琐、样例提交随意性较大不利于回归测试、测试结果的正确性认定由人眼保证费时费力且可靠性难以评估等等。

针对上述缺陷，一种改进方法是利用计算机检查测试结果的正确性，将基准RIP点阵和待测试RIP点阵之间的比较交由计算机去完成，这一方法大大减轻了人工干预的工作量，在一定程度上实现了对栅格图像处理器的自动测试。但是，其缺陷也很明显，即该自动测试方法对点阵差异没有容忍度，无法调控用于判断结果是否一致的点阵差异度，只要有一个像素存在差异，就会认为点阵不同，从而报告待测试RIP出现异常。这一特性使得该自动测试系统过于灵敏，缺乏对因程序实现代码的轻微修改导致转换处理结果产生轻微不同但并不影响结果正确性的现象的容忍，而RIP是经常会进行这一类轻微修改的，如此一来，测试人员会发现报告异常的样例大部分情况下都不算是真正的异常，而只是极其轻微的、人眼难以发现的细小差异，完全可以忽略不计，于是，这样一来，反而耗费了更多了人工去排除这类“误报”，从而使得测试人员逐渐失去了用该自动测试系统进行自动测试的热情。显然，上述情况是远远不能令人满意的。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明实施例提出一种栅格图像处理器测试方法，实现针对栅格图像处理器的可调控自动测试。

本发明实施例提供的技术方案是：

一种栅格图像处理器测试方法，包括：

使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；

将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；

如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；

否则，确定所述待测试RIP不合格。

优选地，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较包括：

将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；

将所述测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。

优选地，所述方法还包括：

使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；

将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；

如果所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值，则确定所述待测试RIP合格；

否则，确定所述待测试RIP不合格。

优选地，所述方法还包括：

预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；

将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。

优选地，所述方法还包括：

预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。

一种栅格图像处理器测试系统，包括：

轮廓处理模块，用于使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；

轮廓比较模块，用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；