[发明专利]一种芯片测试软件的开发方法和系统无效

专利信息
申请号: 201310390570.1 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN103440133A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 杨兵;王旭升;许集润;柴亮;王素娟;商迪;刘坤;孙军;管云峰;戴杨 申请(专利权)人: 上海高清数字科技产业有限公司
主分类号: G06F9/44 分类号: G06F9/44;G06F9/455;G06F11/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200125 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 测试 软件 开发 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种芯片测试软件的开发系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试,其特征在于,其至少包括:

主机,运行主机程序的若干计算机或网络终端,其包括网络编程调试模块;

ATE仿真器,运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端;

数据源:用于主机的程序的有效数据的任何载体,所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。

2.如权利要求1所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于:所述ATE仿真器包括:ATE主控模块,芯片测试数据生成模块,ATE数据处理模块,网络通信模块以及网络编程调试模块。

3.如权利要求2所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于:所述ATE主控模块:启动芯片测试模式,生成测试条件,并将芯片测试模式信息和测试条件发送给芯片测试数据生成模块,然后从芯片测试数据生成模块获取芯片测试数据,将需要在ATE仿真器处理的芯片测试数据发送给ATE数据处理模块,获得结果;将需要发送给主机进行处理的芯片测试数据,通过网络通信模块发送给主机,接收来自主机的处理结果。

4.如权利要求2所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于:所述芯片测试数据生成模块:模拟芯片测试过程,将来自ATE主控模块的模式信息和条件,随机生成芯片测试数据并且返回给ATE主控模块;其中,本模块生成的芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。

5.如权利要求2所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于:所述ATE数据处理模块:用于处理芯片测试数据,采用本方法开发的ATE数据处理模块将直接移植到ATE使用;所述网络通信模块:用于ATE仿真器与主机通信,将直接移植到ATE使用;所述网络编程调试模块:在ATE仿真器和主机分别运行,用于调试网络通信模块和主机程序的网络通信功能。

6.如权利要求1所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于:所述主机程序对数据源和来自ATE仿真器的芯片测试数据进行处理。

7.如权利要求1所述的一种芯片测试软件的开发方法,其特征在于,所述ATE仿真器包括:ATE主控模块,芯片测试数据生成模块,ATE数据处理模块,网络通信模块以及网络编程调试模块,其至少包括以下步骤:

1)ATE主控模块加载待开发芯片测试模式和测试条件,并将这些信息发送给芯片测试数据生成模块;

2)芯片测试数据生成模块根据测试模式和测试条件,生成模拟的芯片测试数据;

3)ATE主控模块将上述的芯片测试数据加载到ATE数据处理模块;

4)使用主机的网络编程调试模块调试ATE仿真器的网络通信模块的网络通信功能;

5)使用ATE仿真器端的网络编程调试模块调试主机程序的网络通信功能;

6)主机程序的网络通信功能和ATE仿真器的网络通信模块一起调试,完成主机和ATE仿真器的网络通信功能;

7)开发主机的数据源读取,数据处理,返回和输出结果功能;

8.如权利要求7所述的一种芯片测试软件的开发方法,其特征在于,对于多个主机和多个ATE仿真器,上述步骤4)-7)重复进行。

9.如权利要求7所述的一种芯片测试软件的开发方法,其特征在于,所述芯片测试数据的取值范围大于等于ATE仿真器的返回数据范围。

10.如权利要求7所述的一种芯片测试软件的开发方法,其特征在于,本方法提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统、一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统、一种用于开发主机程序的方法和系统。

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