[发明专利]一种芯片测试软件的开发方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，主要涉及一种芯片测试中的ATE仿真器以及在芯片测试中ATE周边软件开发的一种方法。

背景技术

近年来，随着芯片/IC设计复杂度的规模的不断扩大，芯片测试也变得越来越复杂，这使得IC测试的成本越来越高。同时为了迎合客户的各种需求，特别是信息安全和复杂运算的需要，在芯片进行ATE(Automatic Test Equipment,集成电路(IC)自动测试机)测试的时候需要使用客户指定的主机进行数据处理，而不希望由ATE来完成这些数据处理（例如信息安全需求，或者数据处理速度需求），这就需要开发主机上的主机程序。如果开发这些主机程序需要ATE参与进来，首先需要在得到芯片的样片已后才能进行开发主机程序，使得开发过程启动太晚；其次，ATE停止测试芯片，而用于主机程序开发，使得主机程序的开发成本过高；最后，主机程序的开发人员一般不是ATE厂商人员，ATE与主机程序开发人员的工作环境协调需要耗费一定成本。

同时，目前现有技术中作为ATE仿真器，例如“SIMULATOR FOR IC TESTING DEVICE”，其方法也存在以下诸多弊端：

1.没有本地数据处理能力。目前的ATE仿真器一般是对IC测试结果直接打印或者显示出来，而随着IC测试复杂度的增大，打印大量的数据对于用户来说无法快速判断测试正确性，所以ATE需要本地数据处理能力，而新的仿真器能提供开发本地数据处理能力软件的开发环境。

2.没有网络通信功能。目前的ATE仿真器只面向芯片，而没有面向互联网的接口程序。因此无法实现芯片测试数据的外部处理功能，当用户需要指定主机处理IC测试的数据时，目前的ATE仿真器无法与外部主机互联，并且及时响应外部主机的指令。

综上所述，为了避免上述情形，降低芯片测试成本，一种新的，灵活、实用的芯片（IC）测试软件开发方法和系统的发明是势在必行的。

发明内容

本发明的目的是，在没有ATE的前提下：

1、提供一种用于生成IC测试数据的方法和数据生成器，以解决在没有ATE的前提下，无法生成各种正确和错误的IC测试数据流的问题。

2、提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统，使得ATE数据处理程序的开发成本大幅降低，成功率大幅提升。

3、提供一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统，使得ATE与主机通信的网络通信程序开发成本大幅降低，成功率大幅提升。

4、提供一种用于开发主机程序的方法和系统，使得主机程序开发成本大幅降低，成功率大幅提升。

为了解决上述技术问题，本发明提供的技术方案为：

一种芯片测试软件的开发系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其至少包括：

主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端；

ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；

数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。

所述ATE仿真器包括：ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块。

所述ATE主控模块：启动芯片测试模式，生成测试条件，并将芯片测试模式信息和测试条件发送给芯片测试数据生成模块，然后从芯片测试数据生成模块获取芯片测试数据，将需要在ATE仿真器处理的芯片测试数据发送给ATE数据处理模块，获得结果；将需要发送给主机进行处理的芯片测试数据，通过网络通信模块发送给主机，接收来自主机的处理结果。

所述芯片测试数据生成模块：模拟芯片测试过程，将来自ATE主控模块的模式信息和条件，随机生成芯片测试数据并且返回给ATE主控模块；其中，本模块生成的芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。

所述ATE数据处理模块：用于处理芯片测试数据，采用本方法开发的ATE数据处理模块将直接移植到ATE使用;所述网络通信模块：用于ATE仿真器与主机通信；所述网络编程调试模块：在ATE仿真器和主机分别运行，用于调试网络通信模块和主机程序的网络通信功能。

所述主机程序对数据源和来自ATE仿真器的芯片测试数据进行处理。

一种芯片测试软件的开发方法，其包括ATE仿真器，所述ATE仿真器包括：ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块，其至少包括以下步骤：