[发明专利]微芯片熔断器有效

专利信息
申请号: 201310394917.X 申请日: 2013-09-03
公开(公告)号: CN103794426A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 元世喜;文齐道 申请(专利权)人: ORISEL株式会社
主分类号: H01H85/046 分类号: H01H85/046
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 芯片 熔断器
【权利要求书】:

1.一种微芯片熔断器,其特征在于,包括:

板状的第一绝热片;

基层,其形成于上述第一绝热片上;

导电性的元件,其形成于上述基层上;

第二绝热片,其形成于上述元件上;

一对导电性端电极,分别与上述元件的两端相接触;

第一基片,其形成于上述第一绝热片的下部;以及

板状的第二基片,其形成于上述第二绝热片上。

2.根据权利要求1所述的微芯片熔断器,其特征在于,还包括在上述第二绝热片与上述元件之间形成的覆盖层。

3.根据权利要求2所述的微芯片熔断器,其特征在于,上述元件包括一对电极元件和可熔元件,其中上述可熔元件将上述一对电极元件连接起来,使得一对电极元件之间通电,上述电极元件上不形成上述覆盖层。

4.根据权利要求3所述的微芯片熔断器,其特征在于,

上述第一基片、上述第二基片及上述基层由陶瓷材质形成,上述第一绝热片及上述第二绝热片由多孔性陶瓷材质形成,上述覆盖层由熔点高于上述陶瓷材质的材质形成。

5.根据权利要求4所述的微芯片熔断器,其特征在于,上述陶瓷材质是玻璃陶瓷。

6.根据权利要求4所述的微芯片熔断器,其特征在于,上述元件包括银。

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