[发明专利]一种测定地层孔隙结构以及流体特性的方法及设备有效
申请号: | 201310395157.4 | 申请日: | 2013-09-03 |
公开(公告)号: | CN103470250A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 岳文正;陶果 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团公司;中国石油大学(北京) |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测定 地层 孔隙 结构 以及 流体 特性 方法 设备 | ||
1.一种测定地层孔隙结构以及流体特性的方法,其特征是,所述的方法具体包括:
选取多个地层样本;
对所述的多个地层样本进行分析,确定出岩电关系模型;
根据所述的岩电关系模型确定地层含水饱和度;
根据所述的地层含水饱和度确定地层含油气饱和度;
根据所述的岩电关系模型确定地层水电阻率;
采集当前储层的测井资料;
根据所述的地层含水饱和度、地层含油气饱和度、地层水电阻率对所述的测井资料进行综合解释,得到当前储层的地层含水饱和度、地层含油气饱和度以及地层水电阻率。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征是,对所述的多个地层样本进行分析,确定出岩电关系模型具体包括:
对所述的多个地层样本进行岩石物理实验,得到实验数据;
对所述的实验数据进行分析,得到地层影响因素,所述的地层影响因素包括孔隙度、泥质含量以及地层胶结指数;
通过数值模拟对所述的地层影响因素进行单因素实验,得到单因素测量结果;
对所述的单因素测量结果进行统计分析,确定出岩电关系模型。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征是,对所述的多个地层样本进行分析,确定出的岩电关系模型为:
其中,F为地层影响因素,比值(无量纲);RO为地层百分百含水时的电阻率,单位为Ω·m;Rw为地层所含矿化度水溶液电阻率,单位为Ω·m;φ为孔隙度;Vsh为泥质含量;A为阿尔奇参数;M为孔隙连通参数,m=AφM(1-Vsh)为地层胶结指数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征是,当不考虑泥质含量的影响时,对所述的多个地层样本进行分析,确定出的岩电关系模型为:
5.根据权利要求1或3所述的方法,其特征是,根据所述的岩电关系模型确定地层含水饱和度具体包括:
获取所述多个地层样本的测井资料;
对所述的测井资料进行解释,得到联合电阻率增大系数与地层含水饱和度的关系模型;
根据所述的联合电阻率增大系数与地层含水饱和度的关系模型以及所述的岩电关系模型确定地层含水饱和度。
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