[发明专利]自动测试装置及其自动测试方法

权利要求书

1.一种自动测试装置，用以测试一光感测集成电路，上述光感测集成电路包括一可见光感测器及一不可见光感测器，其特征在于上述自动测试装置包括：

一密闭光学模块，具有一光源及一第一光源出口；以及

一切换模块，具有一反射板及一第二光源出口；

其中，当上述自动测试装置以一可见光测试模式测试上述光感测集成电路时，上述光源发出一入射光，上述切换模块切换上述第二光源出口的位置对应于上述第一光源出口，致使上述入射光能通过上述第一光源出口与上述第二光源出口射至上述光感测集成电路的上述可见光感测器，以得到一第一感测结果；

当上述自动测试装置以一不可见光测试模式测试上述光感测集成电路时，上述光源关闭，上述切换模块切换上述反射板的位置对应于上述光感测集成电路，致使上述光感测集成电路所发出的一红外光被上述反射板反射至上述光感测集成电路的上述不可见光感测器，以得到一第二感测结果。

2.如权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于，上述密闭光学模块设置于上述光感测集成电路上方，致使上述反射板与上述光感测集成电路之间具有一特定距离。

3.如权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，还包括一距离调整单元，上述距离调整单元设置于上述反射板与上述光感测集成电路之间，致使上述反射板与上述光感测集成电路之间具有上述特定距离。

4.一种自动测试方法，用以测试一光感测集成电路，上述光感测集成电路包括一可见光感测器及一不可见光感测器，其特征在于，上述自动测试方法包括下列步骤：

(a)判断对上述光感测集成电路的测试是以一可见光测试模式或一不可见光测试模式进行；

(b)若步骤(a)的判断结果为以上述可见光测试模式测试上述光感测集成电路，上述方法切换一光源出口的位置对应于一光源，致使上述光源所发出的一入射光能通过上述光源出口射至上述光感测集成电路的上述可见光感测器，以得到一第一感测结果；以及

(c)若步骤(a)的判断结果为以上述不可见光测试模式测试上述光感测集成电路，上述方法关闭上述光源并切换一反射板的位置对应于上述光感测集成电路，致使上述光感测集成电路所发出的一红外光被上述反射板反射至上述光感测集成电路的上述不可见光感测器，以得到一第二感测结果。

5.如权利要求4所述的自动测试方法，其特征在于，还包括下列步骤：

于上述反射板与上述光感测集成电路之间设置一距离调整单元，致使上述反射板与上述光感测集成电路之间具有一特定距离。