[发明专利]自动测试装置及其自动测试方法

说明书

技术领域

本发明是与光感测集成电路有关，特别是关于一种能够有效提升光感测集成电路的测试效率并降低其生产成本的自动测试装置及自动测试方法。

背景技术

一般而言，目前市面上的光感测集成电路通常为具有环境光感测器(ambient light sensor)与接近感测器(proximity sensor)二合一的产品，环境光感测器可用以感测环境光的变化，而接近感测器则通过光学方式或电磁方式来感测前方是否有待测物或障碍物。

由于光感测集成电路同时具有环境光感测器与接近感测器两种感测器，并且这两种感测器分别适用于不同的测试方法，因此，在对光感测集成电路进行测试时，就必须分成两个站台并配合自动量测设备分别对环境光感测器与接近感测器进行测试。这将会导致下列缺点：

(1)对光感测集成电路进行测试所耗费的时间过长，因而降低光感测集成电路的生产效率；

(2)需要在具有特殊控制光量(照度)大小的环境下，例如明室或暗室，才能顺利完成光感测集成电路的测试。

发明内容

因此，本发明提出一种自动测试装置及其自动测试方法，以解决现有技术所遭遇到的上述问题。

根据本发明的一具体实施例为一种自动测试装置。于此实施例中，自动测试装置用以测试光感测集成电路。光感测集成电路包括可见光感测器及不可见光感测器。自动测试装置包括密闭光学模块及切换模块。密闭光学模块具有光源及第一光源出口。切换模块具有反射板及第二光源出口。

当自动测试装置以可见光测试模式测试光感测集成电路时，光源发出入射光，切换模块切换第二光源出口的位置对应于第一光源出口，致使入射光能通过第一光源出口及第二光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器，以得到第一感测结果。

当自动测试装置以不可见光测试模式测试光感测集成电路时，光源关闭，切换模块切换反射板的位置对应于光感测集成电路，致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器，以得到第二感测结果。

于一实施例中，密闭光学模块设置于光感测集成电路上方，致使反射板与光感测集成电路之间具有特定距离。

于一实施例中，自动测试装置还包括距离调整单元。距离调整单元是设置于反射板与光感测集成电路之间，致使反射板与光感测集成电路之间具有特定距离。

根据本发明的另一具体实施例为一种自动测试方法。于此实施例中，自动测试方法用以测试光感测集成电路。光感测集成电路包括可见光感测器及不可见光感测器。自动测试方法包括下列步骤：(a)判断对光感测集成电路的测试是以可见光测试模式或不可见光测试模式进行；(b)若步骤(a)的判断结果为以可见光测试模式测试光感测集成电路，该方法切换光源出口的位置对应于光源，致使光源所发出的入射光能通过光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器，以得到第一感测结果；以及(c)若步骤(a)的判断结果为以不可见光测试模式测试光感测集成电路，该方法关闭光源并切换反射板的位置对应于光感测集成电路，致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器，以得到第二感测结果。

相较于现有技术，本发明所提出的自动测试装置及其自动测试方法由传统的分开两个站台配合自动量测设备分别测试光感测集成电路的可见光感测器与不可见光感测器改善为于一组密闭光学模块中通过可程序电流自动调整光量(照度)并自动切换反射板与光源出口以分别测试光感测集成电路的可见光感测器与不可见光感测器。本发明的自动测试装置及其自动测试方法具有下列优点：

(1)由于不需分开两个站台进行测试，故能够节省进行测试时所需的空间大小；

(2)由于采用密闭光学模块，故能够有效地阻绝外界的光线干扰；

(3)能够达到缩短测试时间、提升生产效率并减少生产成本的功效。

关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及附图得到进一步的了解。

附图说明

图1图示根据本发明的一实施例的自动测试装置的分解视图。

图2图示自动测试装置中的切换模块的反射板及第二光源出口的俯视图。

图3图示自动测试装置以可见光测试模式测试光感测集成电路的示意图。

图4图示自动测试装置以不可见光测试模式测试对光感测集成电路的示意图。

图5图示根据本发明的另一实施例的自动测试方法的流程图。

主要元件符号说明：

S10～S16：流程步骤              OE：第一光源出口