[发明专利]光学模块、电子设备以及驱动方法在审

专利信息
申请号: 201310404583.X 申请日: 2013-09-06
公开(公告)号: CN103675977A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 松下友纪;广久保望 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G02B5/28 分类号: G02B5/28;G02B26/00;G01J3/02;G01J3/26
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 模块 电子设备 以及 驱动 方法
【权利要求书】:

1.一种光学模块,其特征在于,

具备:

第一反射膜,使入射光的一部分透过一部分反射;

第二反射膜,与所述第一反射膜相对配置、使入射光的一部分透过一部分反射;以及

间隙控制部,改变所述第一反射膜及所述第二反射膜之间的间隙的大小,

所述间隙控制部根据针对构成测定对象波长区域的两个以上波长区域组分别设定的透过光谱的次数,控制与所述测定对象波长对应的所述间隙的大小。

2.根据权利要求1所述的光学模块,其特征在于,

具有间隙变更部,所述间隙变更部通过施加电压而改变所述间隙的大小,

所述间隙控制部具备存储部,存储按照每一个所述测定对象波长记录针对所述测定对象波长的、对所述间隙变更部施加的所述电压的V-λ数据,

所述V-λ数据是将所述测定对象波长与对应于用于将所述测定对象波长的光作为设定的所述次数的峰值波长取出的所述间隙的所述电压进行关联的数据,

所述间隙控制部根据所述V-λ数据对所述间隙变更部施加与所述测定对象波长对应的所述电压。

3.根据权利要求1所述的光学模块,其特征在于,

具有间隙变更部,所述间隙变更部通过施加电压改变所述间隙的大小,

所述间隙控制部具备存储部,存储按照每一个所述测定对象波长记录针对所述测定对象波长的、对所述间隙变更部施加的所述电压的V-λ数据,

所述V-λ数据是所述测定对象波长与对应于用于将所述测定对象波长的光作为各所述次数的峰值波长取出的所述间隙的电压的关系,

所述间隙控制部选择与所述测定对象波长对应的所述次数,并对所述间隙变更部施加与选择的所述次数对应的所述电压。

4.根据权利要求1所述的光学模块,其特征在于,

测定波长区域包括第一波长区域、以及作为波长比所述第一波长区域长的波长区域的第二波长区域,

对属于所述第一波长区域的所述测定对象波长设定的所述次数比对属于所述第二波长区域的所述测定对象波长设定的所述次数高。

5.根据权利要求4所述的光学模块,其特征在于,

用于取出所述第二波长区域中的最长波长的光的所述间隙,比用于取出所述第一波长区域中的最短波长的光的所述间隙大。

6.根据权利要求4所述的光学模块,其特征在于,

所述间隙控制部分别取得针对所述测定波长区域所包含的多个所述测定对象波长的所述间隙,从所述间隙的最大值开始沿所述间隙减少的方向依次改变为取得的所述间隙。

7.一种电子设备,其特征在于,

具备:

权利要求1至6中任一项所述的光学模块;以及

处理控制部,所述处理控制部根据通过所述第一反射膜及所述第二反射膜取出的光进行规定的处理。

8.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,

具备检测部,检测通过所述第一反射膜及所述第二反射膜取出的光,

所述处理控制部使将基于由所述检测部检测的各测定对象波长的光的光量的测量光谱转换为分光光谱的转换矩阵作用于所述测量光谱,从而估计射入所述第一反射膜及所述第二反射膜的测定光的分光光谱。

9.一种驱动方法,其特征在于,

是波长可变干涉滤波器的驱动方法,所述波长可变干涉滤波器具备:

第一反射膜,使入射光的一部分透过一部分反射;

第二反射膜,与所述第一反射膜相对配置、使入射光的一部分透过一部分反射;以及

间隙变更部,改变所述第一反射膜及所述第二反射膜之间的间隙的大小,

所述驱动方法根据测定对象波长、以及对构成测定对象波长区域的两个以上波长区域组分别设定的透过光谱的次数来控制所述间隙变更部。

10.一种光学模块,其特征在于,

具备:

第一反射膜,使入射光的一部分透过一部分反射;

第二反射膜,与所述第一反射膜相对配置、使入射光的一部分透过一部分反射;以及

间隙变更部,改变所述第一反射膜及所述第二反射膜之间的间隙的大小,

当设定m、n为不同自然数时,所述光学模块在检测第一波长区域的光时使用m次的峰值波长进行检测,在检测与所述第一波长区域不同的第二波长区域的光时,使用n次的峰值波长进行检测。

11.根据权利要求10所述的光学模块,其特征在于,

所述第一波长区域比所述第二波长区域波长短,

并满足m=n+1的关系。

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