[发明专利]一种隔膜均匀性检测方法及其检测装置无效
| 申请号： | 201310422914.2 | 申请日： | 2013-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN103487381A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 陈信维 | 申请（专利权）人： | 达尼特材料科技（芜湖）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 张巧婵 |
| 地址： | 241000 安徽省芜湖市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 隔膜 均匀 检测 方法 及其 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种隔膜均匀性检测方法，其特征在于：在隔膜两侧各放置一偏光片；在其中一偏光片外侧放置光源，光源发光经该偏光片射入，照射隔膜后，再由另一偏光片射出；根据另一偏光片射出的光线色彩分布判定隔膜的均匀性。
2.如权利要求1所述的隔膜均匀性检测方法，其特征在于：所述偏光片射出的光线通过CCD图像传感器传送给和CCD图像传感器连接的处理器，通过处理器分析判断隔膜的均匀性。
3.如权利要求2所述的隔膜均匀性检测方法，其特征在于：所述偏光片光轴方向和所述隔膜表面夹角为45°±10°。
4.如权利要求1或2或3或4所述的隔膜均匀性检测方法，其特征在于：所述光源发出的可见光波长为400～700nm。
5.如权利要求4所述的隔膜均匀性检测方法，其特征在于：所述隔膜为押出膜、贴合膜、复合膜或热处理膜。
6.一种隔膜均匀性检测装置，其特征在于：包括设在所述隔膜两侧的偏光片，在设于所述隔膜一侧的偏光片外侧设有光源。
7.如权利要求6所述的隔膜均匀性检测装置，其特征在于：在设于所述隔膜另一侧的偏光片外侧设有连接有处理器的CCD图像传感器。
8.如权利要求7所述的隔膜均匀性检测装置，其特征在于：所述偏光片光轴方向和所述隔膜表面夹角为45°±10°。
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