[发明专利]一种隔膜均匀性检测方法及其检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及隔膜检测领域，具体涉及一种隔膜均匀性检测方法及其检测装置。

背景技术

干式隔离膜制作过程主要为薄膜押出、热处理以及延伸造孔，进行延伸造孔前的薄膜称为前躯膜。前躯膜可以是押出膜、贴合膜、复合膜以及热处理膜，前躯膜的膜均匀性对于之后延伸造孔后的均匀性有着非常直接的关系。此均匀性对隔膜厚度、内应力及微结构等综合特性均有影响，所以当最前面制作过程能做到最佳控制时，后段制作过程的均匀性会相对的提升。

目前隔膜均匀性的检测方式中都是以隔膜厚度作为主要的检测对象，而测量厚度最常见的检测方式有红外线、X射线及β射线，但是以上这些测试方式都只能了解厚度的均匀性，并无法反应出在加工过程造成材料的内应力与结构的均匀性与分布；隔膜的延伸造孔与前躯膜的内应力和微结构有强烈的关连性，这种测试方法无法保证隔膜成品率。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种能够检测隔膜内部结构均匀性，提高隔膜产品成品率的隔膜均匀性检测方法及其检测装置。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

该隔膜均匀性检测方法，在隔膜两侧各放置一偏光片；在其中一偏光片外侧放置光源，光源发光经该偏光片射入，照射隔膜后，再由另一偏光片射出；根据另一偏光片射出的光线色彩分布判定隔膜的均匀性。

所述偏光片射出的光线通过CCD图像传感器传送给和CCD图像传感器连接的处理器，通过处理器分析判断隔膜的均匀性。

所述偏光片光轴方向和所述隔膜表面夹角为45°±10°。

所述光源发出的可见光波长为400～700nm。

所述隔膜为押出膜、贴合膜、复合膜或热处理膜。

该隔膜均匀性检测装置，包括设在所述隔膜两侧的偏光片，在设于所述隔膜一侧的偏光片外侧设有光源。

在设于所述隔膜另一侧的偏光片外侧设有连接有处理器的CCD图像传感器。

所述偏光片光轴方向和所述隔膜表面夹角为45°±10°。

本发明的优点在于：该隔膜均匀性检测方法，在隔膜两侧设置偏光片，利用偏光片与测量物之间的光学特性使薄膜呈现不同的色彩变化，根据色彩变化判断薄膜整体的厚度、应力分布和材料结构的均匀性。根据薄膜均匀性检测结果，利用人工或自动方式回馈调整薄膜制作过程与设备参数，以得到高均匀性的薄膜，使薄膜成品率得到提升与改善。该隔膜均匀性检测装置，用于薄膜均匀性检测，能够通过薄膜均匀性检测结果，判断薄膜内部均匀性，以进一步调整工艺，来提高薄膜成品率。

附图说明

下面对本发明说明书各幅附图表达的内容及图中的标记作简要说明：

图1为本发明隔膜均匀性检测装置的结构示意图。

图2为图1隔膜均匀性检测装置的偏光片和隔膜之间的重叠结构示意图。

上述图中的标记均为：

1、隔膜，2、上偏光片，3、下偏光片，4、光源，5、CCD图像传感器。

具体实施方式

下面对照附图，通过对最优实施例的描述，对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。

如图1和图2所示，该隔膜均匀性检测装置，包括设在隔膜1两侧的偏光片，偏光片分为上偏光片2和下偏光片3，在设于隔膜1一侧的偏光片（即下偏光片3）外侧设有光源4。

在设于隔膜1另一侧的偏光片（即上偏光片2）外侧设有连接有处理器的CCD图像传感器5。处理器读取CCD图像传感器5采集的色彩信息后，与内部预先存储的设定值进行分析比较判断，以确定隔膜均匀性程度。

偏光片光轴方向和隔膜1表面（薄膜1加工方向）夹角为45°±10°。

该隔膜均匀性检测方法，利用隔膜均匀性检测装置来实现，在隔膜1两侧各放置一偏光片；偏光片分为上偏光片2和下偏光片3，在下偏光片3外侧放置光源4，光源4发光经该下偏光片3射入，照射隔膜1后，再由上偏光片2射出；根据上偏光片2射出的光线色彩分布判定隔膜的均匀性。

通过光线色彩分布判定隔膜1的均匀性，可通过人眼判断，亦可经过图像处理装置判断。优选偏光片射出的光线通过CCD图像传感器传送给和CCD图像传感器连接的处理器，通过处理器分析判断隔膜的均匀性。

优选偏光片光轴方向和隔膜表面夹角为45°±10°。

光源4可为任何发光方式的光源发生器发出，光源4发出的可见光波长为400～700nm。

隔膜1为前躯膜，隔膜1可为押出膜、贴合膜、复合膜或热处理膜。