[发明专利]光学触控校正方法及光学触控面板

权利要求书

1.一种光学触控校正方法，用于一光学触控面板包含一投射光源以及一线性光感测器，该光学触控校正方法包含：

以该投射光源产生一投射光线，该投射光线经反射至该线性光感测器；

利用该线性光感测器量测反射后的该投射光线，以得到相对于线性座标的一反射强度曲线；

计算量测到的该反射强度曲线与一基准强度曲线的一强度差异；以及

若该强度差异高于一第一阈值，调整该投射光源的发射功率以进行校正，

其中该反射强度曲线与该基准强度曲线的该强度差异，对应该光学触控面板上的一形变弯曲程度。

2.如权利要求1所述的光学触控校正方法，还包含：

若该强度差异低于该第一阈值，利用该线性光感测器感测到的该反射强度曲线，执行触控点判断功能。

3.如权利要求2所述的光学触控校正方法，还包含：

若该强度差异高于一第二阈值，停止触控点判断功能并维持先前的触控状态，其中该第二阈值大于该第一阈值。

4.如权利要求1所述的光学触控校正方法，其中计算该强度差异的步骤包含：

由该反射强度曲线与该基准强度曲线之间的差距，在线性座标上取样得到多个差异值；以及

由这些差异值平均得到该强度差异。

5.如权利要求1所述的光学触控校正方法，其中计算该强度差异的步骤包含：

将线性座标区分为多个区间；

由这些区间中选择至少一指定区间；

计算在该至少一指定区间内该反射强度曲线与该基准强度曲线在线性座标上的多个差异值；以及

由这些差异值平均得到该强度差异。

6.如权利要求1所述的光学触控校正方法，其中计算该强度差异的步骤包含：

将线性座标区分为多个区间；

针对每一个区间，计算每一个区间内该反射强度曲线与该基准强度曲线在线性座标上的多个差异值，以得到每一个区间的一区间差异；以及

将这些区间差异加权平均得到该强度差异。

7.如权利要求1所述的光学触控校正方法，其中计算该强度差异的步骤包含：

若在线性座标上的一座标范围内，该反射强度曲线上呈现一剧烈梯度变化，则将该座标范围内的该反射强度曲线排除计算。

8.如权利要求1所述的光学触控校正方法，其中当该光学触控面板无形变时，利用该线性光感测器量测反射后的该投射光线以得到相对于线性座标的一强度曲线作为该基准强度曲线。

9.一种光学触控面板，包含：

一边框；

一投射光源，设置于该边框上，用以产生一投射光线；

一反射单元，设置于该边框上，用以反射该投射光线；

一线性光感测器，设置于该边框的一第一侧边上，用以接收经反射的该投射光线，并量测反射后的该投射光线，以得到相对于线性座标的一反射强度曲线；

一控制单元，与该投射光源以及该线性光感测器耦接，用以计算量测到的该反射强度曲线与一基准强度曲线的一强度差异，若该强度差异高于一第一阈值，调整该投射光源的发射功率以进行校正，

其中该控制单元计算得到的该强度差异，对应该光学触控面板上的一形变弯曲程度。

10.如权利要求9所述的光学触控面板，其中该反射单元至少设置于该边框的一第二侧边上，且位置相对该线性光感测器。

11.如权利要求10所述的光学触控面板，其中该反射单元设置于该边框的该第二侧边以及一第三侧边上，且位置相对该线性光感测器与该投射光源。

12.如权利要求9所述的光学触控面板，还包含：

一触控单元，与该线性光感测器以及该控制单元耦接，若该强度差异低于该第一阈值，该触控单元利用该线性光感测器感测到的该反射强度曲线，执行触控点判断功能。

13.如权利要求12所述的光学触控面板，其中若该强度差异高于一第二阈值，该触控单元停止触控点判断功能并维持先前的触控状态，该第二阈值大于该第一阈值。

14.如权利要求9所述的光学触控面板，其中该控制单元藉由该反射强度曲线与该基准强度曲线之间的差距，在线性座标上取样得到多个差异值，并由这些差异值平均得到该强度差异。