[发明专利]光学触控校正方法及光学触控面板

说明书

技术领域

本发明涉及触控面板，特别是涉及一种光学触控面板及其控制方法。

背景技术

在光学触控系统下，光学感测器固定于触控区的左右上角位置，因为外力会改变触控的平面，造成触控面板的形变，可能影响光学感测器（optical sensor）固定在左右上角平面的位置，使光学感测器的收光角度因此改变，导致接收的光讯号强度不足，进而产生杂讯或触控失准（如触控感测时发生触控讯号跳点等现象）。

目前市面上所有的光学触控模块大多采用使用平面型光学感测器（area optical sensor）来克服上述面板形变问题。由于，平面型光学感测器的可视角度为多角度，当触控平面发生形变时，平面型光学感测器可重新选择其他最佳的可视角度。然而，平面型光学感测器在制造工艺上较为复杂、成本较高、占用体积也较大且消耗功率较高。再者，由于平面型光学感测器需要选择最佳可视角度（例如挑选对应不同角度的讯号线）的额外步骤，在运算上也需要较多时间取像。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种光学触控校正方法及光学触控面板，其光学触控面板中设置线性光感测器（line optical sensor），藉由线性光感测器得到相对于线性座标的反射强度曲线，当光学触控面板上发生形变时，计算反射强度曲线与基准强度曲线的强度差异，调整光源的强度来校正光学触控面板的形变误差，以解决上述问题。

依据本发明的一实施态样，其揭示一种光学触控校正方法，用于光学触控面板其包含投射光源以及线性光感测器，光学触控校正方法包含：以投射光源产生投射光线，投射光线经反射至线性光感测器；利用线性光感测器量测反射后的投射光线，以得到相对于线性座标的反射强度曲线；计算量测到的反射强度曲线与基准强度曲线的强度差异；以及，若强度差异高于第一阈值，调整投射光源的发射功率以进行校正。

依据本发明的另一实施态样，其揭示一种光学触控面板，包含边框、投射光源、反射单元、线性光感测器以及控制单元。投射光源设置于边框上，并用以产生投射光线。反射单元设置于边框上，并用以反射投射光线。线性光感测器设置于边框的第一侧边上，用以接收经反射的投射光线，并量测反射后的投射光线，以得到相对于线性座标的反射强度曲线。控制单元与投射光源以及线性光感测器耦接，用以计算量测到的反射强度曲线与基准强度曲线的强度差异，若强度差异高于第一阈值，调整投射光源的发射功率以进行校正。

附图说明

为使本发明能更明显易懂，本发明附图说明如下：

图1示出了根据本发明中一种光学触控校正方法的方法流程图；

图2A示出了根据本发明中一种光学触控面板的上视示意图；

图2B示出了图2A中光学触控面板的功能方块图；

图3A示出了当光学触控面板的面板区域未发生板弯形变时的侧视示意图；

图3B示出了当光学触控面板的面板区域发生板弯形变时的侧视示意图；

图4A至图4D示出了各种不同情况下线性光感测器感测的反射强度曲线的示意图；以及

图4E示出了图4C中的反射强度曲线经校正后的反射强度曲线的示意图。

附图符号说明

为让本发明内容能更明显易懂，附图符号的说明如下：

100：光学触控校正方法

S100～S112：步骤

200：光学触控面板

201：面板区域

210：边框

211、212、213：侧边

220：投射光源

230：反射单元

240：线性光感测器

250：控制单元

260：触控单元

DIF：强度差异

RF1：第一阈值

RF2：第二阈值

具体实施方式

以下将以附图及详细叙述清楚说明本发明内容的精神，本领域技术人员在了解本发明内容的较佳实施例后，可由本发明内容所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本发明内容的精神与范围。

请参阅图1，其示出了根据本发明中一种光学触控校正方法100的方法流程图。于本实施例中，光学触控校正方法100适用于光学触控面板上，其至少包含投射光源以及线性光感测器。请一并参阅图2A与图2B，图2A示出了根据本发明中一种光学触控面板200的上视示意图，图2B示出了图2A中光学触控面板200的功能方块图。于此实施例中，光学触控校正方法100可配合光学触控面板200使用。