[发明专利]用于大尺寸零件的自动检查的系统和方法

说明书

本申请是申请日为2008年6月13日的名称为：“用于大尺寸零件的自动检查的系统和方法”的中国专利申请200880020300.9的分案申请。

背景技术

实现无损检查（NDI）的一些方法已经被研发并且目前被用于多种加工装置。一些NDI方法包括但不限于超声波检查、机械敲击测试、超声碰撞多普勒、涡流测试光学感测、x射线反向散射，光子感应正电子湮灭探伤技术、激光剪切电子散斑、红外热成像、中子放射线成像技术、透射红外热成像等等。相比于其他材料，许多个别的NDI方法可能更适于特殊材料的检查。

以上和其他NDI方法利用传感器方位信息形成各种结构材料中可能的内部损伤或可能的缺陷的二维和三维图像数据。传感器的方位通常由安装在机械臂或X-Y-Z桥架的方位编码器跟踪，因此导致大量人工NDI处理。随着被检查零件尺寸的增加，在成本、检查速度、多功能性以及可交换性方面可得到改善。

相关技术的上述实例和与之相关的限制只是说明性的而不是唯一的。通过阅读说明并研究附图，本领域技术人员将了解相关技术的其他限制。

发明内容

以下实施例和其中的一些方面结合系统和方法一起被描述和说明，其只是示范性的和说明性的，而不局限于此范围内。在许多实施例中，在以上背景技术中所述的一个或多个问题已经被减少或消除，而其他实施例则被直接改进。

根据示例性实施例，系统和方法能自动检查工件。无损检查传感器被安装在框架上，该框架安装在传送设备上。工件的第一预定位置的方位通过跟踪系统测定。移动传送设备将无损检查传感器定位在靠近工件的第一预定位置处，并且靠近第一预定位置的工件的第一部分用无损检查传感器做无损检查。

根据一个方面，传感器能被自动移动和跟踪。工件的第二预定位置的方位能用跟踪系统测定。移动该传输设备以将无损检查传感器定位在靠近工件的第二预定位置处，并且靠近第二预定位置的工件的第二部分通过无损检查传感器做无损检查。

根据另一方面，来自传感器的数据可以被分析。来自无损检查传感器的数据被提供给计算系统并且该数据可以被计算系统分析。该数据能与工件的预定阈值标准相比较。而且，当相关位置的分析数据超过预定限定标准时，工件可以在相关方位被标记。

在另一个示例性实施例中，系统被提供以用于自动检查工件。该系统包括跟踪系统，传送设备，以及安装在传送设备上的框架。该框架具有能容纳被检查工件外部形状的形状。该系统也包括安装在框架上的无损检查传感器和与跟踪系统和无损检查传感器操作地连接的计算系统。

根据一个方面，几种类型无损检查方法的传感器可被使用。而且，无损检查传感器可能包括至少一个第一类无损检查传感器和至少一个第二类无损检查传感器，该第二类无损检查与第一类无损检查不同。

除了以上所述示例性实施例和方面，通过参考附图和研究下文详细描述更多的实施例和方法可以了解额外的实施例和方面。

附图说明

示例性实施例通过参考附图被说明。本文公开的实施例和图形被认为只是说明性的而不是限制性的。

图1是被检查示例性零件的透视图；

图2是正在被示例性系统检查的示例性零件的透视图；

图3图示说明了被图2的示例性系统检查的示例性零件的截面图；

图4是示例性系统的框图；

图5是示例性计算系统的框图；以及

图6是工件自动检查的示例性方法的流程图。

具体实施例的详细描述

总体上看，系统和方法可自动检查工件。无损检查传感器被安装在框架上，该框架安装在传送设备上。工件的第一预定位置的方位用跟踪系统来测定。移动传送设备以将无损检查传感器定位在靠近工件的第一预定位置，并且靠近第一预定位置的工件的第一部分用无损检查传感器做无损检查。传感器可被自动移动和跟踪。工件的第二预定位置的方位可用跟踪系统来测定。移动传送设备以将无损检查传感器定位在靠近工件的第二预定位置，并且靠近第二预定位置的工件的第二部分可用无损检查传感器做无损检查。下面将详细说明。