[发明专利]测试分选机用插件有效
申请号: | 201310426373.0 | 申请日: | 2013-09-18 |
公开(公告)号: | CN103785619B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 罗闰成;刘晛准;黄正佑 | 申请(专利权)人: | 泰克元有限公司 |
主分类号: | B07C5/00 | 分类号: | B07C5/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人: | 金光军,刘奕晴 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 分选 插件 | ||
1.一种测试分选机用插件,其特征在于,包括:
主体,形成有用于插入半导体元件的插孔;
支撑部件,从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔中的半导体元件;
固定部件,将所述支撑部件固定于所述主体;
闩锁装置,用于将半导体元件保持在所述插孔内,
其中,所述支撑部件上形成有用于朝测试机方向开放半导体元件端子的开放孔,以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧,且所述开放孔中的至少一个特定开放孔包括:
扩增部,具有比半导体元件的端子半径更大的曲率半径;
引导部,具有不同于所述扩增部的半径大小的曲率半径,从而对半导体元件的端子进行引导。
2.如权利要求1所述的测试分选机用插件,其特征在于,所述引导部的曲率半径小于所述扩增部的曲率半径。
3.如权利要求1所述的测试分选机用插件,其特征在于,所述至少一个特定开放孔形成于当半导体元件立为竖直状态时能够使处于最下侧的端子插入的位置上。
4.如权利要求1所述的测试分选机用插件,其特征在于,所述特定开放孔还包括连接所述扩增部和所述引导部的连接部,且所述连接部具有当测试盘立为竖直状态时越向下侧宽度越窄的形态。
5.一种测试分选机用插件,其特征在于,包括:
主体,形成有用于插入半导体元件的插孔;
闩锁装置,用于将半导体元件保持在所述插孔内,
其中,所述主体具有引导槽,该引导槽形成于防脱突起上,该防脱突起朝水平方向上的相对侧突出,以防止插入到所述插孔中的半导体元件于构成所述插孔的下表面的四边形开放面上朝下方脱离,且所述引导槽中的至少一个特定引导槽包括:
引导部,用于引导半导体元件的端子;
扩增部,扩增而具有比所述引导部的最大宽度更大的宽度。
6.如权利要求5所述的测试分选机用插件,其特征在于,所述至少一个特定开放孔形成于当半导体元件立为竖直状态时能够使处于最下侧的端子插入的位置上。
7.如权利要求1至6中的任意一项所述的测试分选机用插件,其特征在于,所述引导部的曲率半径与半导体元件的端子的曲率半径相等。
8.一种测试分选机用插件,其特征在于,包括:
主体,形成有用于插入半导体元件的插孔;
支撑部件,从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔中的半导体元件;
固定部件,将所述支撑部件固定于所述主体;
闩锁装置,用于将半导体元件保持在所述插孔内,
其中,所述支撑部件上形成有用于朝测试机方向开放半导体元件端子的开放孔,以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧,且所述开放孔中的至少一个特定开放孔的下端处于比竖直状态下在水平方向上并排布置的其他普通开放孔的下端更高的位置上。
9.一种测试分选机用插件,其特征在于,包括:
主体,形成有用于插入半导体元件的插孔;
闩锁装置,用于将半导体元件保持在所述插孔内,
其中,所述主体具有引导槽,该引导槽形成于防脱突起上,该防脱突起朝水平方向上的相对侧突出,以防止插入到所述插孔中的半导体元件于构成所述插孔的下表面的四边形开放面上朝下方脱离,且所述引导槽中的至少一个特定引导槽的下端处于比竖直状态下在水平方向上并排布置的其他普通引导槽的下端更高的位置上。
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