[发明专利]电磁线薄膜绕包的检测方法有效

专利信息
申请号: 201310433491.4 申请日: 2013-09-22
公开(公告)号: CN103512892A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 吴培培;穆平安;戴曙光 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01B11/14
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 脱颖
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电磁线 薄膜 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种电磁线薄膜绕包的检测方法,其特征在于,利用第一摄像机和第二摄像机同时采集电磁线薄膜绕包图像,并且对所述第一摄像机采集的第一图像和所述第二摄像机采集的第二图像执行以下步骤:

图像预处理(S1),对所述第一图像和所述第二图像平滑去噪;

亚像素级边缘特征提取(S2),对预处理后的所述第一图像和所述第二图像进行边缘特征提取,以得到所述第一图像和所述第二图像的边缘精确定位图像;

图像立体匹配(S3),通过基于边缘区域的Harris特征匹配算法,实现所述第一图像和所述第二图像的特征匹配;以及

进行电磁线绕包间距与绕包率检测(S4)。

2.根据权利要求1所述的电磁线薄膜绕包的检测方法,其中,

所述图像立体匹配(S3)的步骤包括:

对提取边缘特征后的所述第一图像和所述第二图像按窗口依次计算视差梯度δd,将所有满足1.2<|δd|<2的窗口区域判定为边缘区域,对于平行双目系统而言,其中及分别是实际场景中两点p1(x1,y1,z1)和p2(x2,y2,z2)对应的在第一图像和第二图像中的投影;

利用Harris算子提取所述第一图像和所述第二图像的边缘区域的一定数量的特征角点,生成两特征向量;及

通过判断所述第一图像与所述第二图像中相应特征角点之间的欧氏距离D来实现相应特征角点之间的匹配,其中若Dmin/Dcmin<0.5,则相应的两个特征角点相匹配,这里D=(x1-x1)2+(x2-x2)2+...+(xn-xn)2,]]>其中,(x1,x2,...,xn)和(x1′,x2′,…xn′)为Harris提取角点后得到的特征向量,Dmin为欧氏距离D的最小值,Dcmin为欧氏距离D的次小值,n为正整数。

3.根据权利要求1所述的电磁线薄膜绕包的检测方法,其中所述图像预处理(S1)的步骤采用模板为3×3的标准差σ=0.5的高斯平滑滤波去噪。

4.根据权利要求1所述的电磁线薄膜绕包的检测方法,其中所述亚像素级边缘特征提取(S2)的步骤包括:

像素级边缘检测,得到所述第一图像和所述第二图像的边缘粗定位图像;以及

亚像素级边缘检测,得到所述第一图像和所述第二图像的边缘精确定位图像。

5.根据权利要求4所述的电磁线薄膜绕包的检测方法,其中所述像素级边缘检测是采用Canny算子进行的像素级边缘检测。

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