[发明专利]一种长距离平面或导轨的测量方法有效
申请号: | 201310461500.0 | 申请日: | 2013-09-30 |
公开(公告)号: | CN103453856A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 徐仲维;江清波;吕敬高;徐天艺;文比强 | 申请(专利权)人: | 湘潭电机股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27;G01B11/30 |
代理公司: | 湘潭市汇智专利事务所 43108 | 代理人: | 颜昌伟 |
地址: | 411101 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 长距离 平面 导轨 测量方法 | ||
1.一种长距离平面或导轨的测量方法,包括如下步骤:
1)将两台双轴光电自准直仪分别可调式桥板上,分别作为测量校准仪和校准仪;
2)将基点反射镜置于待测量的平台首端前作为反射基点,然后将测量校准仪置于待测量的平台上;选取水平和纵向定位基准轴线,调整基点反射镜或测量校准仪使测量校准仪的界面上十字光标X、Y轴校零;
3)在待测量平台首端和测量校准仪之间移动检测反射镜,用测量校准仪对待测量平台进行施工测量;
4) 在待测量平台首端与测量校准仪之间安装校准仪,调整校准仪使测量仪的界面上十字光标X、Y轴校零,然后后移测量校准仪并调整测量校准仪使校准仪界面上十字光标X、Y轴校零;
5)撤掉校准仪,并在校准仪撤掉前的校准仪和测量校准仪之间区域内移动检测反射镜,用测量校准仪对工件进行施工测量;
6)校准仪撤掉前校准仪和测量校准仪之间区域测量完成后,将校准仪设在待测量平台上该区域内靠近测量校准仪,调整校准仪使测量仪的界面上十字光标X、Y轴校零,后移测量校准仪,调整测量校准仪,使校准仪界面上的十字光标的X、Y轴校零;然后再撤掉校准仪,并在校准仪撤掉前校准仪和测量校准仪之间区域内移动检测反射镜,用测量校准仪对工件进行施工测量;重复该操作,直至待测量平台测量结束。
2.如权利要求1所述的长距离平面或导轨的测量方法,还包括精度复合步骤:将校准仪设置在待测量平台上,相距测量校准仪小于双轴光电自准直仪的测量范围,调整校准仪并使测量校准仪的界面上十字光标X、Y轴校零,然后将测量校准仪向待测量平台首端移动,靠近校准仪;调整测量校准仪使校准仪的界面上十字光标X、Y轴校零;然后再将校准仪向待测量平台首端移动,与测量校准仪的距离不超过双轴光电自准直仪的测量范围,调整校准仪并使测量校准仪的界面上十字光标X、Y轴校零,然后将测量校准仪向待测量平台首端移动,靠近校准仪,调整测量校准仪并使得校准仪的界面上十字光标X、Y轴校零,如此反复,直至与基点反射镜形成闭合测量路线。
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