[发明专利]一种长距离平面或导轨的测量方法有效

专利信息
申请号: 201310461500.0 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN103453856A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 徐仲维;江清波;吕敬高;徐天艺;文比强 申请(专利权)人: 湘潭电机股份有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01B11/30
代理公司: 湘潭市汇智专利事务所 43108 代理人: 颜昌伟
地址: 411101 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 长距离 平面 导轨 测量方法
【说明书】:

技术领域

    本发明涉及一种光电测量方法,特别是涉及一种长距离平面或导轨的测量方法。 

背景技术

    目前测量精度较高的直线度、平面度测量仪如德国的MOLLER、美国的API、英国的TAXLOR HOBSON等公司的光电自准直仪测量距离只有几米至几十米之间。而全站仪、电子水准仪的测量距离能达到要求,但测量精度约为0.5mm。大多是采用目测的方法其测量精度受人为、光线等的制约,不能满足现代工业现场的精度测量要求。 

发明内容

    为了解决上述技术问题,本发明提供一种测量范围大,测量精度高且工作效率高的长距离平面或导轨的测量方法。 

本发明包括如下步骤: 

1)将两台双轴光电自准直仪分别可调式桥板上,分别作为测量校准仪和校准仪;

2)将基点反射镜置于待测量的平台首端前作为反射基点,然后将测量校准仪置于待测量的平台上;选取水平和纵向定位基准轴线,调整基点反射镜或测量校准仪使测量校准仪的界面上十字光标X、Y轴校零;

3)在待测量平台首端和测量校准仪之间移动检测反射镜,用测量校准仪对待测量平台进行施工测量;

4) 在待测量平台首端与测量校准仪之间安装校准仪,调整校准仪使测量仪的界面上十字光标X、Y轴校零,然后后移测量校准仪并调整测量校准仪使校准仪界面上十字光标X、Y轴校零;

5)撤掉校准仪,并在校准仪撤掉前的校准仪和测量校准仪之间区域内移动检测反射镜,用测量校准仪对工件进行施工测量;

6)校准仪撤掉前校准仪和测量校准仪之间区域测量完成后,将校准仪设在待测量平台上该区域内靠近测量校准仪,调整校准仪使测量仪的界面上十字光标X、Y轴校零,后移测量校准仪,调整测量校准仪,使校准仪界面上的十字光标的X、Y轴校零;然后再撤掉校准仪,并在校准仪撤掉前的校准仪和测量校准仪之间区域内移动检测反射镜,用测量校准仪对工件进行施工测量;重复该操作,直至待测量平台测量结束。

本发明的有益效果是:本发明通过两台双轴光电自准直仪互为基准的测量、校验和位置的转换,从而扩大了测量的量程,使得量程可达几百米以上,通过设立基点反射镜控制点,采用闭合的测量路线、精度复合的测量方法,确保测量精度,测量精度为≤10微米。 

附图说明

图1是本发明的校准测量仪和校准仪的结构示意图。 

图2是本发明设立基点反射镜和校准测量仪的示意图。 

图3是本发明在A B1区域内移动检测反射镜对工件进行施工测量的示意图。 

图4是本发明在A B1区域内利用测量校准仪校对校准仪的示意图。 

图5是发明在C1B2区域内利用校准仪校对测量校准仪的示意图。 

图6是本发明在C1B2区域内移动检测反射镜对工件进行施工测量的示意图。 

图7是本发明在C1B2区域内利用测量校准仪校对校准仪的示意图。 

图8是发明在C2B3区域内利用校准仪校对测量校准仪的示意图。 

图9是本发明在C2B3区域内移动检测反射镜对工件进行施工测量的示意图。 

图10是本发明在Cn-1Bn区域内移动检测反射镜对工件进行施工测量的示意图。 

具体实施方式

   下面结合附图对本发明作进一步的说明。 

采用两台天津AUTOMAT ULTRA 5000型双轴光电自准直仪为例,天津AUTOMAT ULTRA 5000型双轴光电自准直仪的测量范围为30米,双轴精度可达0.1微米。 

利用天津AUTOMAT ULTRA 5000型双轴光电自准直仪,本发明包括如下步骤: 

1)如图1所示,将两台双轴光电自准直仪1分别安装在可调式桥板2上,分别作为测量校准仪3和校准仪4。

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