[发明专利]基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法有效
| 申请号： | 201310473904.1 | 申请日： | 2013-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN103499636A | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 王晓东;任忠鸣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大学;上海大学 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 罗文群 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 磁力 薄板 类铁磁 材料 缺陷 无损 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法，其特征在于该方法包括以下步骤：
（1）将永磁体置于待测薄板的表面，永磁体的磁化方向垂直于薄板表面；
（2）利用与待测薄板相同材料的标定薄板进行标定，标定方法为：使用力传感器测定作用于永磁体上静磁力F0的反作用力F0′；
（3）对待测薄板内部缺陷进行测定，测定过程包括以下步骤：
（3-1）使用力传感器测定永磁体受到的反作用力F1′；
（3-2）将上述反作用力F1′和F0′进行比较，若F1′和F0′相同，则确定待测薄板上不存在表面缺陷或内部缺陷，若F1′和F0′不相同，则确定待测薄板上存在表面缺陷或内部缺陷。
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