[发明专利]补偿密度的方法和执行该方法的成像设备

说明书

本申请要求于2012年10月24日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0118673号韩国专利申请的权益，其全部公开通过引用包含于此。

技术领域

本公开涉及一种补偿密度的方法，更具体地讲，涉及一种在密度补偿操作中使用的补偿密度传感器的感测值的方法。

背景技术

成像设备通过在静电潜像经由曝光过程形成在感光体上时提供包含调色剂的显影剂来在感光体上形成图像，然后将形成在感光体上的图像转印到转印介质并利用热和压力对图像定影，由此执行打印。

然而，当形成在感光体上的图像被转印到转印介质时，图像可能由于环境因素(诸如，温度和湿度)而不具有期望的密度。为了克服这种限制，样本碎片（sample patch）形成在转印介质上，并且根据通过感测样本碎片的密度获得的值调整用于转印的电源，由此执行密度补偿。

然而，当用于感测样本碎片的密度的密度传感器的感测能力由于各种环境因素而变化时，可能发生感测误差，并且密度补偿可能未被正确地执行。因此，密度传感器的感测能力需要通过补偿密度传感器的感测值来保持恒定。

发明内容

在下面的描述中将部分地阐明另外的方面和/或优点，并且部分地，其将会通过描述而变得清楚，或者通过实施本发明可以了解。

本公开提供一种补偿密度以使感测误差最小化的方法。

根据一方面，提供一种成像设备，所述成像设备包括：转印单元，被构造为将形成在感光体上的图像转印到转印介质；电源单元，被构造为向转印单元提供转印功率；密度传感器单元，被构造为感测转印到转印介质的图像的密度；和控制单元，被构造为控制电源单元以使得调整提供给转印单元的转印功率，其中，所述密度传感器单元被允许从用于感测形成在转印介质上的样本碎片的密度的第一位置移动到用于感测参考反射板的密度的第二位置，控制单元执行根据由密度传感器单元在第二位置感测的参考反射板的密度的结果来补偿密度传感器单元的感测值的传感器补偿模式，并执行根据由密度传感器单元在第一位置感测的样本碎片的密度调整提供给转印单元的转印功率的密度补偿模式，以由此补偿转印到转印介质的图像的密度。

密度传感器单元可相对于设置在密度传感器单元的一侧的铰链旋转，以从第一位置移动到第二位置。

当密度传感器单元位于第一位置时的密度传感器单元和转印介质之间的距离可以与当密度传感器单元位于第二位置时的密度传感器单元和参考反射板之间的距离相等。

述控制单元可包括：传感器补偿单元，被构造为将由密度传感器单元在第二位置感测的参考反射板的密度与参考值进行比较并计算补偿变量；和密度补偿单元，被构造为通过将计算的补偿变量应用于由密度传感器单元在第一位置感测的样本碎片的密度来执行密度补偿。

控制单元可通过使用将补偿变量应用于样本碎片的密度而获得的值来产生图像曲线，并且可控制电源单元，以使得根据将图像曲线的斜率与预定(即，预先存储)的参考斜率进行比较的结果调整转印功率。

传感器补偿单元可通过将参考值除以感测的参考反射板的密度来计算补偿变量，以及密度补偿单元可通过使用将感测的样本碎片的密度乘以补偿变量而获得的值来执行密度补偿。

可还包括：存储单元，被构造为存储补偿变量，其中，当由传感器补偿单元计算的补偿变量与存储单元中存储的补偿变量不匹配时，存储单元中存储的补偿变量被更新。

控制单元可在执行打印数据被打印的打印模式的同时执行传感器补偿模式。

控制单元可正好在执行密度补偿模式之前执行传感器补偿模式。

参考反射板可具有芒塞尔色系的N3.5或更大的亮度。

根据一个方面，提供一种用于成像设备的补偿密度的方法，所述方法包括：执行补偿密度传感器单元的感测值的传感器补偿模式；执行根据通过使用密度传感器单元感测形成在转印介质上的样本碎片的密度的结果补偿形成在转印介质上的图像的密度的密度补偿模式，其中，所述密度传感器单元在执行密度补偿模式时位于用于感测形成在转印介质上的样本碎片的密度的第一位置，并且在执行传感器补偿模式时位于用于感测参考反射板的密度的第二位置。

密度传感器单元可相对于位于密度传感器单元的一侧的铰链旋转，以从第一位置移动到第二位置。

当密度传感器单元位于第一位置时的密度传感器单元和转印介质之间的距离可以与当密度传感器单元位于第二位置时的密度传感器单元和参考反射板之间的距离相等。