[发明专利]液晶面板离子检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种液晶面板离子检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：

基台，用于放置待测面板；

点灯机，通过信号线与待测面板连接，用于调节待测面板的灰阶和频率；

亮度采集器，用于采集待测面板的亮度；

亮度处理器，与所述亮度采集器连接，用于显示和处理所述亮度采集器所采集的待测面板的亮度。

2.如权利要求1所述的液晶面板离子检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括箱体，所述基台设于所述箱体内，所述亮度采集器在所述箱体内对待测面板进行亮度采集，所述箱体的侧壁开设有箱门。

3.如权利要求2所述的液晶面板离子检测装置，其特征在于，所述箱体的内壁为黑色。

4.如权利要求1-3任一项所述的液晶面板离子检测装置，其特征在于，所述基台为黑色。

5.一种基于权利要求1-4任一项所述的液晶面板离子检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

选取待测面板；

将选取的待测面板置于基台上，利用点灯机调节待测面板的频率和灰阶画面；

测试待测面板点亮时的初始亮度，和测试待测面板点亮一段时间后的亮度；

根据所测的亮度值计算出待测面板的亮度变化率。

6.如权利要求5所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，在待测面板点亮后，观察待测面板的亮度变化情况，判断离子的位置。

7.如权利要求5所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，由所测得的亮度变化率来计算出离子浓度。

8.如权利要求5所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，待测面板点亮后，间隔一段时间测试一次所述待测面板点亮后的亮度，并建立时间和亮度值的变化曲线。

9.如权利要求5所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，在关闭外电压时，对所述待测面板上的离子速度进行定性分析。

10.如权利要求5所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，在选取待测面板时，采用交流/直流实验或热老化处理实验对液晶面板进行初步分析，以排除由阵列基板而引发不良现象的面板。

11.如权利要求5所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，所述待测面板点亮时的灰阶大于L10。

12.如权利要求5-11任一项所述的液晶面板离子检测方法，其特征在于，所述待测面板点亮时的频率小于或等于30HZ。