[发明专利]液晶面板离子检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种液晶面板离子检测装置及检测方法。

背景技术

液晶面板内由于离子的存在会引发残像、斑点等各种不良现象，测试离子的分布、浓度、迁移速度等成为分析该类不良现象的必需事项，传统的测试方法一般是将液晶面板拆解后收集液晶，然后利用测试设备测试液晶中的离子浓度和种类，其存在如下问题：

1）传统的测试方法是将液晶面板拆解后收集液晶进行测试的，因此无法区分离子在液晶或者配向膜中的分布，只能分别进行分析，这不仅增加了工作量，而且影响了分析的准确度。

2）传统的方法因为需要将液晶面板拆解，所以无法考证液晶面板在正常点灯状态下离子对液晶面板的影响；

3）此外在拆解和收集液晶的过程中容易造成污染，由此引入其他离子而影响分析测试，同时收集的液晶需要用专门的设备进行分析，消耗的测试时间较长，而且测试设备成本价格昂贵，样品的保存条件也较为苛刻；

4）对于配向膜中存在的离子，传统的测试方法无法进行有效的分析测试。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是如何测量正常点灯状态下的液晶面板上的离子。

（二）技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供的一种液晶面板离子检测装置，所述检测装置包括：

基台，用于放置待测面板；

点灯机，通过信号线与待测面板连接，用于调节待测面板的灰阶和频率；

亮度采集器，用于采集待测面板的亮度；

亮度处理器，与所述亮度采集器连接，用于显示和处理所述亮度采集器所采集的待测面板的亮度。

进一步地，所述检测装置还包括箱体，所述基台设于所述箱体内，所述亮度采集器在所述箱体内对待测面板进行亮度采集，所述箱体的侧壁开设有箱门。

进一步地，所述箱体的内壁为黑色。

进一步地，所述基台为黑色。

本发明还提供一种基于上述的液晶面板离子检测装置的检测方法，其包括以下步骤：

选取待测面板；

将选取的待测面板置于基台上，利用点灯机调节待测面板的频率和灰阶画面；

测试待测面板点亮时的初始亮度，和测试待测面板点亮一段时间后的亮度；

根据所测的亮度值计算出待测面板的亮度变化率。

进一步地，在待测面板点亮后，观察待测面板的亮度变化情况，判断离子的位置。

进一步地，由所测得的亮度变化率来计算出离子浓度。

进一步地，待测面板点亮后，间隔一段时间测试一次所述待测面板点亮后的亮度，并建立时间和亮度值的变化曲线。

进一步地，在关闭外电压时，对所述待测面板上的离子速度进行定性分析。

进一步地，在选取待测面板时，采用交流/直流实验或热老化处理实验对液晶面板进行初步分析，以排除由阵列基板而引发不良现象的面板。

进一步地，所述待测面板点亮时的灰阶大于L10。

进一步地，所述待测面板点亮时的频率小于或等于30HZ。

（三）有益效果

上述技术方案所提供的一种液晶面板离子检测装置及其检测方法，可以在液晶面板正常显示的状态下方便快捷地测试面板内离子的亮度变化率；进一步地，可获取面板内部离子的分布，可分辨出该离子是在液晶层分布或在导向膜分布；更进一步地，可测量出离子速度和浓度。

附图说明

图1是本发明液晶面板离子检测装置的结构示意图；

图2是本发明测试离子分布的流程框图；

图3是本发明当离子位于液晶层时的电压变化分布图；

图4是本发明当离子位于液晶层时的离子偏移图；

图5是本发明当离子位于导向膜时的电压变化分布图；

图6是本发明当离子位于导向膜时的离子偏移图；

图7是本发明停止外电场后的离子和电场的分布图；

图8是TN模式下V-T曲线。

其中，1、信号线；2、箱孔；3、箱体；4、待测面板；5、基台；6、亮度采集器；7、亮度处理器；8、箱门；9、点灯机。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。