[发明专利]一种针对高速信号损耗测试的方法

权利要求书

1.一种针对高速信号损耗测试的方法，其特征在于，其测试过程为：

一、制作测试板，根据实际高速信号线的阻抗及所在的层设计该测试板的线宽和间距，在该测试板上设计添加被测差分信号线，所述被测差分信号线包括两条传输线，两传输线的同一端部均连接有测试探头，另一端部相互连通；

二、搭建测试平台：该平台包括一台具有两端口的TDR时域反射仪、与该TDR时域反射仪连接的探针、与探针连接且连接有测试线缆的测试板；

三、设置测试环境，在该环境中进行测试；

四、测试至少五组数据，取其平均值，得出测试结论。

2.根据权利要求1所述的一种针对高速信号损耗测试的方法，其特征在于，所述实际高速信号线是指QPI或PCIE总线，其测试板制作的具体情况为：阻抗为85～88欧姆，板材为IT180A，线宽为5MIL，对间间距为7MIL，采用10度走线方式，传输线线长为8INCH，传输层设计在表层、第三层及第六层，相对应的，被测差分信号线添加在该表层、第三层及第六层。

3.根据权利要求1所述的一种针对高速信号损耗测试的方法，其特征在于，所述测试环境包括测试前预处理环境和测试中环境，其中测试前预处理环境为：温度为23±2摄氏度，湿度为40±5%RH，预处理时间至少为48小时；所述测试中环境为：测试温度为15～35摄氏度，湿度为45～75%RH；测试时间为小于2小时。