[发明专利]智能操作装置资源分配系统

权利要求书

1.一种用于同时测试多个半导体元件的系统，所述系统包括：

多个测试器，每一个包括处理器和存储器、测试器侧接驳板、以及测试器通信端口，所述处理器和存储器被配置来存储以及执行用于完成测试所述多个半导体元件中的一个半导体元件的控制信号；

操作装置，其具有多个测试站、操作装置侧接驳板、以及操作装置通信端口，每一个测试站被配置来接收所述多个半导体元件中的一个；以及

控制器，其位于所述多个测试器以及所述操作装置外部，并且通过所述测试器以及操作装置通信端口与所述操作装置和所述多个测试器中的每一个通信，

其中所述操作装置和所述多个测试器中的每一个之间的通信通过所述控制器进行，并且所述多个测试器中的每一个经由所述测试器侧接驳板，通过操作装置侧接驳板，连接到所述多个半导体元件中的相应一个；

其中所述控制器被配置来将从所述多个测试器中的每一个接收的控制信号格式化以用于发送到所述操作装置；

其中所述控制器被配置来将从所述操作装置接收的反馈信号格式化以用于发送到所述多个测试器中的一个或多个。

2.如权利要求1所述的系统，其中所述测试器通信端口和所述操作装置通信端口利用通用接口总线GPIB线缆连接到所述控制器。

3.如权利要求1所述的系统，其中所述控制器包括用户界面，其被配置来允许用户控制所述多个测试器和所述操作装置的操作。

4.如权利要求1所述的系统，还包括测试头，其与所述操作装置接口连接来支撑所述多个半导体元件。

5.一种用于同时测试多个半导体元件的方法，所述方法包括：

将多个测试器以及操作装置连接到外部控制器，每一个所述测试器包括处理器和存储器，被配置来存储和执行用于完成所述多个半导体元件中的一个的测试的控制信号，所述操作装置具有多个测试站，每一个测试站被配置来接收所述多个半导体元件中的一个；

输入所述多个半导体元件到所述操作装置，所述半导体元件中的每一个被分配到单个测试器；

经由所述控制器从所述多个测试器发送控制信号到所述操作装置，以进行相应的半导体元件的测试；

在相应分配的测试器完成测试之后，从所述操作装置输出每一个所述多个半导体元件；

通过所述控制器，将从所述操作装置接收的反馈信号格式化以用于发送到所述多个测试器中的一个或多个；以及

通过所述控制器，将从所述操作装置接收的反馈信号格式化以用于发送到所述多个测试器中的一个或多个。

6.如权利要求5所述的方法，其中利用通用接口总线GPIB线缆执行所述测试器和所述操作装置到所述控制器的连接。

7.如权利要求5所述的方法，还包括：通过与所述控制器通信的用户界面操作所述多个测试器以及所述操作装置。

8.如权利要求5所述的方法，还包括：将测试头与所述操作装置接口连接来支撑所述多个半导体元件。