[发明专利]智能操作装置资源分配系统

说明书

本发明涉及智能操作装置资源分配系统和方法。所述系统包括：多个测试器，测试器侧接驳板、以及测试器通信端口，每一个测试器包括处理器和存储器，被配置来存储以及执行用于同时测试所述多个半导体元件中的一个的控制信号。操作装置具有多个测试站、操作装置侧接驳板、以及操作装置通信端口，每一个测试站被配置来接收所述多个半导体元件中的一个。控制器位于所述多个测试器以及所述操作装置外部，并且通过所述测试器以及操作装置通信端口与所述多个测试器和所述操作装置中的每一个通信。每一个所述多个测试器的和所述操作装置之间的通信通过所述控制器进行。

技术领域

本发明针对用于同时测试多个半导体元件（诸如，集成电路）的系统和方法。

背景技术

自动测试设备(ATE)通常用于测试制造的半导体元件，诸如，集成电路等。该测试系统通常包括与操作装置耦接的测试器。操作装置是一种放置工具，其将测试器件（DUT）（诸如，集成电路）放置在操作装置内的测试站。测试器发送指令到操作装置，诸如，分仓拣选信息、开始/停止信号等，以用于进行DUT的测试。测试器也耦接到DUT以检测并存储测试的结果，以报告给操作人员。

工业系统将一个测试器连接到一个操作装置。通常操作装置可以利用操作装置内的八到三十二个测试站同时测试集成电路。然而，测试器更常常限于一个到八个测试通道。对于高引脚数器件，测试器的容量常常进一步降低到两个或四个通道，或者，甚至可能限制到单个通道。测试器的这样的限制导致浪费了操作装置容量的至少50-75%。

操作装置是昂贵的，每一个成本为数十万美元，并且当前在上述的条件下增加吞吐量要求增加操作装置的数目。因此，期望提供更有效以及更成本有效的增加自动电路测试的方式同时以最少的修改利用现有的测试技术。

发明内容

根据本公开的一个实施例，提供了一种用于同时测试多个半导体元件的系统，所述系统包括：多个测试器，每一个包括处理器和存储器、测试器侧接驳板、以及测试器通信端口，所述处理器和存储器被配置来存储以及执行用于完成测试所述多个半导体元件中的一个半导体元件的控制信号；操作装置，其具有多个测试站、操作装置侧接驳板、以及操作装置通信端口，每一个测试站被配置来接收所述多个半导体元件中的一个；以及控制器，其位于所述多个测试器以及所述操作装置外部，并且通过所述测试器以及操作装置通信端口与所述操作装置和所述多个测试器中的每一个通信，其中所述操作装置和所述多个测试器中的每一个之间的通信通过所述控制器进行，并且所述多个测试器中的每一个经由所述测试器侧接驳板，通过操作装置侧接驳板，连接到所述多个半导体元件中的相应一个。

根据本公开的另一个实施例，提供了一种用于同时测试多个半导体元件的方法，所述方法包括：将多个测试器以及操作装置连接到外部控制器，每一个所述测试器包括处理器和存储器，被配置来存储和执行用于完成所述多个半导体元件中的一个的测试的控制信号，所述操作装置具有多个测试站，每一个测试站被配置来接收所述多个半导体元件中的一个；输入所述多个半导体元件到所述操作装置，所述半导体元件中的每一个被分配到单个测试器；经由所述控制器从所述多个测试器发送控制信号到所述操作装置，以进行相应的半导体元件的测试；以及在相应分配的测试器完成测试之后，从所述操作装置输出每一个所述多个半导体元件。

附图说明

通过示例的方式示出本发明，并且本发明不受附图中示出的其实施例的限制，在附图中，相同的附图标记表示类似的元件。图中的元件出于简化和清楚的目的而示出，并且并不必然按比例绘制。显然，某些垂直尺寸已经被相对于某些水平尺寸放大。

在附图中：

图1是根据本发明一个实施例的用于同时测试多个集成电路的系统的示意性框图；以及

图2是用于操作图1的系统的用户界面的实施例的屏幕截图。

具体实施方式