[发明专利]一种横向功率器件漂移区的制造方法无效

专利信息
申请号: 201310525073.8 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN103545220A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 乔明;章文通;叶珂;祁娇娇;薛腾飞;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 李顺德;王睿
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 横向 功率 器件 漂移 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种横向功率器件漂移区的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

a.在漂移区(1)上生长一层外延层,进行N型杂质和P型杂质注入,重复步骤a多次后进入步骤b;

b.通过退火处理,形成N型掺杂条(22)和P型掺杂条(21);

c.在N型掺杂条(22)和P型掺杂条(21)之间刻蚀介质槽(3);

d.对介质槽(3)进行介质填充;

e.平坦化去除多余的介质。

2.根据权利要求1所述的一种横向功率器件漂移区的制造方法,其特征在于,步骤a还包括:

a1.在漂移区(1)上生长一层外延层,所述外延层和漂移区(1)具有相同的掺杂类型和掺杂浓度,在外延层上依次覆盖薄氧化层(31)和光刻胶(4),在漂移区(1)上表面形成P型杂质注入窗口,进行高能离子注入形成P型掺杂区(21);

a2.去除步骤a1中剩下的光刻胶(4),重新光刻,在漂移区(1)上表面形成N型杂质注入窗口,进行高能离子注入形成N型掺杂区(22);

a3.去除步骤a2中剩下的薄氧化层(31)和光刻胶(4),回到步骤a1。

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