[发明专利]针对逻辑分析仪前向通道的测试装置无效
申请号: | 201310534704.2 | 申请日: | 2013-10-31 |
公开(公告)号: | CN103713270A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 宋云衢;吕华平 | 申请(专利权)人: | 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212200 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 针对 逻辑 分析 通道 测试 装置 | ||
1.一种针对逻辑分析仪定时分析的采样装置,其特征在于,包括信号衰减模块、运放U1、比较器U2、电平转换器U3、运放U4、门限电路和逻辑前向通道电路,信号衰减模块连接运放U1,比较器U2分别连接运放U1、电平转换器U3、运放U4,运放U4分别连接门限电路和逻辑前向通道电路。
2.根据权利要求1所述的针对逻辑分析仪定时分析的采样装置,其特征在于,所述的运放U1采用TSH31型号。
3.根据权利要求1所述的针对逻辑分析仪定时分析的采样装置,其特征在于,所述的比较器U2采用ADCMP561型号。
4.根据权利要求1所述的针对逻辑分析仪定时分析的采样装置,其特征在于,所述的电平转换器U3采用DS90LV001TM型号。
5.根据权利要求1所述的针对逻辑分析仪定时分析的采样装置,其特征在于,所述的运放U4采用OP07型号。
6.根据权利要求1所述的针对逻辑分析仪定时分析的采样装置,其特征在于,信号衰减模块包括电阻R1与电容C1并联组成的阻抗Z1,以及电阻R2与电容C2并联组成的阻抗Z2。
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