[发明专利]针对逻辑分析仪前向通道的测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及前向通道测量技术领域，尤其涉及一种针对逻辑分析仪前向通道的信号测试装置。 

背景技术

随着数字系统的速度和复杂性的提高，测试中对速度和功能有更高更完善的要求。作为连接被测系统与数字逻辑信号采集电路的逻辑探头（前向通道）发挥着日益明显的重要作用。如果这一物理连接电路不能对被测信号进行无失真的获取传输，继而导致分析仪采集到的信号劣化，那么即便分析仪内部的触发、存储和分析等功能技术指标再强大也是没有用的。在许多实际情况下，逻辑探头更直接成为逻辑分析仪性能提升的瓶颈。 

发明内容

本发明的技术效果能够克服上述缺陷，提供一种针对逻辑分析仪前向通道的测试装置，其提高了分析仪器性能。 

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：其包括信号衰减模块、运放U1、比较器U2、电平转换器U3、运放U4、门限电路和逻辑前向通道电路，信号衰减模块连接运放U1，比较器U2分别连接运放U1、电平转换器U3、运放U4，运放U4分别连接门限电路和逻辑前向通道电路。 

所述的运放U1采用TSH31型号。所述的比较器U2采用ADCMP561型号。所述的电平转换器U3采用DS90LV001TM型号。所述的运放U4采用OP07型号。信号衰减模块包括电阻R1与电容C1并联组成的阻抗Z1，以及电阻R2与电容C2并联组成的阻抗Z2。 

前向通道处理探头电缆传来的被测信号，并把它转成二进制形式送到后级处理。前向通道中含有1路时钟通道和16路数据通道，各通道在电路上完全相同，为适应检测不同电平标准（TTL、ECL、CMOS等）的数字系统的需要，二进制转换电路的门限电平有一个可调范围，一般是－5V～＋5V。通道内的高速电压比较器把被检测信号与门限电平进行比较，以判断逻辑电平是“1”还是“0”。 任何高于门限电平的输入电压被记录为逻辑高，即逻辑“1”；任何低于门限电平的输入电压被记录为逻辑低，即逻辑“0”。 

附图说明

图1为本发明的电路原理图； 

图2为本发明的信号衰减模块电路原理图； 

图3为逻辑前向通道电路原理图； 

图4为门限电路原理图； 

图5为图4中TLC5620的D/A转换器操作时序图。 

具体实施方式

本发明的针对逻辑分析仪定时分析的采样装置，包括信号衰减模块、运放U1、比较器U2、电平转换器U3、运放U4、门限电路和逻辑前向通道电路，信号衰减模块连接运放U1，比较器U2分别连接运放U1、电平转换器U3、运放U4，运放U4分别连接门限电路和逻辑前向通道电路。所述的运放U1采用TSH31型号。所述的比较器U2采用ADCMP561型号。所述的电平转换器U3采用DS90LV001TM型号。所述的运放U4采用OP07型号。信号衰减模块包括电阻R1与电容C1并联组成的阻抗Z1，以及电阻R2与电容C2并联组成的阻抗Z2。 

信号衰减网络的设计：通道前端的有一个RC网络，它和由探头电缆上的输入电容、电阻形成的RC网络组成一个具有频率补偿的RC型衰减器，当两个RC网络的乘积相等时，衰减器的衰减比和频率无关，这样就可获得良好的高频补偿。 

衰减网络用以减小输入信号的幅度，同时针对输入信号的频率变化改善传输频率响应。通常衰减器采用典型的RC分压电路，使得在高频信号传输时，不会因为电阻、电容的ESR、ESL特性使得信号传输失真畸变，原理如图2所示。下面作简要计算分析。 

设R₁与C₁的并联阻抗为Z₁，R₂与C₂的并联阻抗为Z₂，如式1-1与1-2。